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《GB/T 4937.2-2006 半導(dǎo)體器件 機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法 第2部分:低氣壓》標(biāo)準(zhǔn)

時間:2023-03-28 09:34:29 作者:環(huán)儀小編 點(diǎn)擊:

GB/T 4937.2-2006《半導(dǎo)體器件 機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法 第2部分:低氣壓》是中國國家標(biāo)準(zhǔn),規(guī)定了半導(dǎo)體器件在低氣壓環(huán)境下進(jìn)行的機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法。

該標(biāo)準(zhǔn)分為7個部分,包括試驗(yàn)?zāi)康摹⒃囼?yàn)條件、試驗(yàn)方法、試驗(yàn)過程、試驗(yàn)后的評定、試驗(yàn)報告和試驗(yàn)注意事項等內(nèi)容。試驗(yàn)?zāi)康氖菫榱嗽u估半導(dǎo)體器件在低氣壓條件下的性能和可靠性。


一、范圍:
本部分適用于半導(dǎo)體器件的低氣壓試驗(yàn)。本項試驗(yàn)的目的是測定元器件和材料避免電擊穿失效的能力,而這種失效是由于氣壓減小時,空氣和其他絕緣材料的絕緣強(qiáng)度減弱所造成的。本項試驗(yàn)僅適用于工作電壓超過1 000 V的器件。
本項試驗(yàn)適用于所有的空封半導(dǎo)體器件。本試驗(yàn)僅適用于軍事和空間領(lǐng)域。
本項低氣壓試驗(yàn)方法和IEC 60068-2-13大體上一致,但鑒于半導(dǎo)體器件的特殊要求,使用本部分條款。


二、試驗(yàn)設(shè)備:
高低溫低氣壓試驗(yàn)箱

《GB/T 4937.2-2006 半導(dǎo)體器件 機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法 第2部分:低氣壓》標(biāo)準(zhǔn)(圖1)


三、試驗(yàn)要求:
本試驗(yàn)所需儀器設(shè)備包括一臺真空泵、一個合適的密封室(必要時,該密封室還應(yīng)具備能觀察樣品的裝置)、一臺可用于測量密封室模擬高度的氣壓表和--只能在直流到30 MHz內(nèi)檢測電流的微安表或示波器。


低氣壓試驗(yàn)是指在大氣壓力低于標(biāo)準(zhǔn)大氣壓的環(huán)境中進(jìn)行的試驗(yàn)。半導(dǎo)體器件在航空航天、高山、太空等環(huán)境中都可能遭受低氣壓的影響,因此進(jìn)行低氣壓試驗(yàn)可以模擬這些特殊環(huán)境下的情況,檢驗(yàn)器件在極端條件下的性能和可靠性。


該標(biāo)準(zhǔn)的實(shí)施可以提高半導(dǎo)體器件的質(zhì)量和可靠性,同時也可以保證器件在極端環(huán)境下的工作性能。


標(biāo)簽: 試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn) 檢測標(biāo)準(zhǔn)

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