《GB/T 2423.59-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Z/ABMFh：溫度（低溫、高溫）/低氣壓/振動(dòng)（隨機(jī)）綜合》標(biāo)準(zhǔn)

《GB/T 2423.59-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Z/ABMFh：溫度（低溫、高溫）/低氣壓/振動(dòng)（隨機(jī)）綜合》是中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)，主要規(guī)定了電工電子產(chǎn)品在低氣壓、高溫、低溫、振動(dòng)等環(huán)境下進(jìn)行綜合試驗(yàn)的方法。

該標(biāo)準(zhǔn)適用于電工電子產(chǎn)品和元器件、工業(yè)產(chǎn)品和汽車、航空航天和船舶等行業(yè)的產(chǎn)品和設(shè)備，主要用于評(píng)估產(chǎn)品的可靠性和適應(yīng)性，在產(chǎn)品設(shè)計(jì)、生產(chǎn)和使用等方面具有重要的指導(dǎo)意義。

一、范圍：
GB/T2423的本部分規(guī)定了溫度(低溫、高溫)/低氣壓/報(bào)動(dòng)(隨機(jī))綜合試驗(yàn)的基本耍求、嚴(yán)酷等級(jí)，試驗(yàn)程序以及其他技術(shù)細(xì)則。
本部分適用于確定產(chǎn)品在溫度(低溫、高溫)、低氣壓和振動(dòng)(隨機(jī))綜合作用下的適應(yīng)性。有溫度變化的綜合試驗(yàn)可參考本部分。

二、試驗(yàn)設(shè)備：
四綜合壓試驗(yàn)箱

該標(biāo)準(zhǔn)主要包括以下內(nèi)容：

1. 試驗(yàn)?zāi)康模和ㄟ^(guò)模擬環(huán)境中的低氣壓、高溫、低溫和振動(dòng)條件，評(píng)估產(chǎn)品的可靠性和適應(yīng)性，為產(chǎn)品設(shè)計(jì)、生產(chǎn)和使用提供依據(jù)。

2. 試驗(yàn)裝置：包括試驗(yàn)室、試驗(yàn)設(shè)備和測(cè)量?jī)x器等。試驗(yàn)室應(yīng)符合相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)，試驗(yàn)設(shè)備應(yīng)符合產(chǎn)品規(guī)格要求，測(cè)量?jī)x器應(yīng)準(zhǔn)確可靠。

3. 試驗(yàn)條件：試驗(yàn)條件包括試驗(yàn)溫度、濕度、氣壓和振動(dòng)等。試驗(yàn)溫度、濕度、氣壓和振動(dòng)應(yīng)符合產(chǎn)品規(guī)格要求和試驗(yàn)要求。

4. 試驗(yàn)方法：包括試驗(yàn)前的準(zhǔn)備工作、試驗(yàn)過(guò)程中的控制要求和試驗(yàn)結(jié)束后的處理方法等。其中，振動(dòng)試驗(yàn)采用隨機(jī)振動(dòng)方式進(jìn)行。

5. 試驗(yàn)過(guò)程中的注意事項(xiàng)：包括試驗(yàn)前的檢查、試驗(yàn)中的安全措施、試驗(yàn)中的異常處理和試驗(yàn)結(jié)束后的處理等。

6. 試驗(yàn)結(jié)果評(píng)定：對(duì)試驗(yàn)結(jié)果進(jìn)行評(píng)定和分析，判斷產(chǎn)品是否符合規(guī)格要求，為產(chǎn)品的設(shè)計(jì)和改進(jìn)提供依據(jù)。

總之，該標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了在低氣壓、高溫、低溫、振動(dòng)等環(huán)境下進(jìn)行綜合試驗(yàn)的方法，為評(píng)估產(chǎn)品的可靠性和適應(yīng)性提供了指導(dǎo)。