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臺(tái)式電腦沖擊試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)

時(shí)間:2023-05-06 09:13:00 作者:環(huán)儀小編 點(diǎn)擊:

臺(tái)式電腦沖擊試驗(yàn)通常是指將電腦放置在沖擊臺(tái)上進(jìn)行沖擊測(cè)試,以模擬電腦在運(yùn)輸和使用過(guò)程中可能遭受的沖擊情況。

在沖擊試驗(yàn)中,通常會(huì)將電腦放置在沖擊臺(tái)上,進(jìn)行不同方向、不同能量和不同沖擊方式的測(cè)試,持續(xù)時(shí)間可以根據(jù)測(cè)試要求而變化。


一、試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn):
GB_T 9813.1-2016 計(jì)算機(jī)通用規(guī)范 第1部分臺(tái)式微型計(jì)算機(jī)


二、試驗(yàn)設(shè)備:
沖擊試驗(yàn)臺(tái)(點(diǎn)擊查看)

臺(tái)式電腦沖擊試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)(圖1)


三、試驗(yàn)方法:

按GB/T 2423.5“試驗(yàn)Ea”進(jìn)行,受試樣品須進(jìn)行初始檢測(cè),安裝時(shí)要注意重力影響,按表3規(guī)定值,在不工作條件下,分別對(duì)樣品的3個(gè)互相垂直方向的每一個(gè)方向連續(xù)施加3次沖擊。試驗(yàn)后進(jìn)行最后檢測(cè)。

這種測(cè)試可以檢測(cè)電腦在沖擊環(huán)境下的性能和穩(wěn)定性,包括硬件和軟件方面的問(wèn)題,如硬盤損壞、主板斷裂等問(wèn)題。


附:表3

臺(tái)式電腦沖擊試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)(圖2)


標(biāo)簽: 檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)

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