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《DB 44/T 2009-2017 移動終端電容式觸摸屏通用技術(shù)規(guī)范》標準

時間:2023-06-05 08:55:36 作者:環(huán)儀小編 點擊:

一、范圍:
本標準規(guī)定了移動終端電容式觸摸屏的術(shù)語和定義、要求、試驗方法、檢驗規(guī)則、標志、標簽、包裝、運輸和貯存。
本標準適用于以玻璃或膜材為主要基材,經(jīng)黃光印刷或激光雕刻等工藝制成的各類結(jié)構(gòu)的電容式觸摸屏(以下簡稱“觸摸屏”或“TP”(Touch Pannel) ) 。


二、試驗項目:
冷熱沖擊試驗、高溫高濕試驗、高低溫試驗等。


三、試驗設(shè)備:
恒溫恒濕試驗箱、冷熱沖擊試驗箱等。

《DB 44/T 2009-2017 移動終端電容式觸摸屏通用技術(shù)規(guī)范》標準(圖1)


四、設(shè)備廠商:
環(huán)儀儀器


五、試驗方法(部分):

1. 冷熱沖擊
將不包裝不通電的產(chǎn)品放在冷熱沖擊試驗箱中,交替溫度分別設(shè)置為-40℃±3℃和8O℃±2℃,各停留30分鐘,為一次循環(huán),設(shè)定溫度變化率>25℃/分鐘,高低溫轉(zhuǎn)換時間在5分鐘以內(nèi),連續(xù)循環(huán)10次,取出產(chǎn)品,在室溫(20℃~25℃)下恢復2小時后進行外觀結(jié)構(gòu)和性能檢測。

2. 低溫儲存
將不包裝不通電的產(chǎn)品放在低溫試驗箱中,溫度設(shè)置為-40℃±3℃,存放24小時,取出產(chǎn)品,在常溫下恢復2小時后進行外觀結(jié)構(gòu)和性能檢測。

3. 高溫儲存
將不包裝不通電的產(chǎn)品放在高溫試驗箱中,溫度設(shè)置為8O℃±2℃,存放24小時,取出產(chǎn)品,在常溫下恢復2小時后進行外觀結(jié)構(gòu)和性能檢測。

4. 高溫高濕儲存
將不包裝不通電的樣品放在高溫高濕試驗箱中,溫度設(shè)置為60℃±2℃,濕度設(shè)置為90%RH±3%RH,存放48小時,取出產(chǎn)品,在常溫下恢復2小時后進行外觀結(jié)構(gòu)和性能檢測。


標簽: 測試標準

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