GB/T 10233-2016 是中國國家標準，標題為《低壓成套開關(guān)設(shè)備和電控設(shè)備基本試驗方法》（Low-voltage switchgear and controlgear assemblies - Methods for basic testing under normal and fault conditions）。
該標準規(guī)定了低壓成套開關(guān)設(shè)備和電控設(shè)備在正常工作和故障條件下進行基本試驗的方法，用于評估其性能和可靠性。
一、范圍：
本標準規(guī)定了低壓成套開關(guān)設(shè)備和電控設(shè)備(以下簡稱成套設(shè)備)型式試驗和出廠試驗的基本方法。
本標準適用于GB 7251.1-2013和GB/T 3797所規(guī)定的試驗項目。
二、試驗項目：
耐腐蝕試驗、耐紫外線（UV）輻射試驗、碰撞試驗、高低溫試驗、濕熱試驗、高低溫沖擊試驗、等。
三、試驗設(shè)備：
恒溫恒濕試驗箱、鹽霧試驗箱、氙燈老化試驗箱、高低溫沖擊試驗箱、碰撞試驗臺等。
四、設(shè)備廠商：
環(huán)儀儀器
.jpg "《GB/T 10233-2016 低壓成套開關(guān)設(shè)備和電控設(shè)備基本試驗方法》標準(圖1)")
五、試驗程序（部分）：
高、低溫沖擊試驗
高﹑低溫沖擊試驗的目的是考核控制單元的儲存、運輸及使用過程中受空氣溫度迅速變化的能力，同時考核印制板組裝件的焊接質(zhì)量及對早期失效的元、器件進行篩選。
試驗時設(shè)備應(yīng)在沒有包裝及不工作狀態(tài)下進行。
設(shè)備先置于溫度為TL，的低溫箱中存放到規(guī)定時間t1，然后取出置于試驗室內(nèi)的環(huán)境溫度下保持時間為t2，再放入到溫度為TH的高溫箱中存放到規(guī)定時間t3，再取出置于試驗室環(huán)境溫度下保持時間t2。此即為一次循環(huán)(見圖4)。循環(huán)次數(shù)應(yīng)不小于5次。
溫度TL、TH，及時間t1，t3取決于設(shè)備的熱容量及對產(chǎn)品要求考核的嚴酷程度，應(yīng)在有關(guān)產(chǎn)品的標準中加以規(guī)定。若無特殊需要，一般應(yīng)不低于本標準規(guī)定。
TL=-40 ℃
TH=+60 ℃
t1=t3不小于30 min
t2不小于2 min，不大于 3 min。對于自動兩箱設(shè)備， t2可以小于30 s，而且不需放在試驗室溫度下。
試驗時溫度允許偏差范圍應(yīng)在±3 ℃之內(nèi)。
試驗溫箱的容積及其空氣循環(huán)應(yīng)使設(shè)備放入后，在5 min或存放時間的10%內(nèi)(兩者取其中較小者的數(shù)值)，其溫度應(yīng)保持在規(guī)定允差之內(nèi)。
經(jīng)過高﹑低溫沖擊試驗后，待設(shè)備恢復(fù)到試驗室環(huán)境溫度后進行外觀檢查及測試其電氣性能，應(yīng)符合所規(guī)定要求。
通過遵循 GB/T 10233-2016 標準，可以對低壓成套開關(guān)設(shè)備和電控設(shè)備進行基本試驗，以驗證其在正常工作和故障情況下的性能和可靠性，確保其安全運行和符合技術(shù)要求。同時，該標準還為制造商、設(shè)計人員和使用者提供了基本試驗的方法和指導(dǎo)，以保障低壓電氣設(shè)備在使用過程中的安全性和穩(wěn)定性。
