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《GB/T 33768-2017 通信用光電子器件可靠性試驗(yàn)方法》標(biāo)準(zhǔn)

時(shí)間:2023-08-24 08:50:33 作者:環(huán)儀小編 點(diǎn)擊:

GB/T 33768-2017 是中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn),標(biāo)題為《通信用光電子器件可靠性試驗(yàn)方法》(Reliability Test Methods for Communication Optoelectronic Devices)。

該標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了通信用光電子器件(如光通信器件、激光器件、光探測(cè)器等)的可靠性試驗(yàn)方法,用于評(píng)估這些器件在不同條件下的可靠性和穩(wěn)定性。這些試驗(yàn)方法旨在確保通信用光電子器件在使用過(guò)程中能夠具備足夠的穩(wěn)定性和性能,以保障通信系統(tǒng)的正常運(yùn)行。


一、范圍:
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了通信用光電子器件可靠性試驗(yàn)方法的術(shù)語(yǔ)和定義、一般要求、詳細(xì)要求,包括試驗(yàn)的目的、設(shè)備、條件、程序、檢驗(yàn)及失效判據(jù)。

本標(biāo)準(zhǔn)適用于通信用光電子器件,其他領(lǐng)域的光電子器件也可參照使用。


二、試驗(yàn)項(xiàng)目:
機(jī)械沖擊試驗(yàn)、振動(dòng)試驗(yàn)、熱沖擊試驗(yàn)、高低溫試驗(yàn)、溫度循環(huán)試驗(yàn)、濕熱試驗(yàn)、高溫壽命試驗(yàn)等。


三、試驗(yàn)設(shè)備:
沖擊試驗(yàn)臺(tái)、恒溫恒濕試驗(yàn)箱、高溫試驗(yàn)箱、液體式冷熱沖擊試驗(yàn)箱


四、設(shè)備廠商:
環(huán)儀儀器


《GB/T 33768-2017 通信用光電子器件可靠性試驗(yàn)方法》標(biāo)準(zhǔn)(圖1)


五、試驗(yàn)程序(部分):

熱沖擊試驗(yàn)

試驗(yàn)條件如下:

-試驗(yàn)溫度:高溫: 100℃和低溫:O℃ ;

-保持時(shí)間:高溫和低溫各5 min;

-循環(huán)次數(shù):從高溫到低溫再?gòu)牡蜏氐礁邷貫橐淮窝h(huán),共15次循環(huán)﹔
-轉(zhuǎn)換時(shí)間:高溫到低溫時(shí)間≤10 s。

在該溫度范圍內(nèi),水(沸水和冰水混合物)是可采用的介質(zhì)。由于海拔的原因,水作為試驗(yàn)的介質(zhì)時(shí),若達(dá)不到規(guī)定的溫度容差,可用下面的試驗(yàn)條件代替:

-試驗(yàn)溫度:高溫: 100℃,低溫:0℃;

-循環(huán)次數(shù):20 次。

程序
按以下程序進(jìn)行試驗(yàn):

a)試驗(yàn)前對(duì)試樣的主要光電特性進(jìn)行測(cè)試。

b)將試樣放于試驗(yàn)槽中,液體在試樣周圍的流動(dòng)不應(yīng)受到阻礙。
c)試樣放在高溫中保持5 min后,再將試樣放入低溫中保持5 min ;
試樣應(yīng)在2 min內(nèi)達(dá)到規(guī)定的溫度;從高溫到低溫,或從低溫到高溫的轉(zhuǎn)換時(shí)間不得超過(guò)l0 s。

d)按照c)步驟進(jìn)行15次循環(huán)。


通過(guò)遵循 GB/T 33768-2017 標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定的可靠性試驗(yàn)方法,制造商和用戶可以評(píng)估通信用光電子器件在不同環(huán)境條件下的性能和可靠性,從而選擇和使用更加穩(wěn)定可靠的器件,提高通信系統(tǒng)的可靠性和性能。同時(shí),該標(biāo)準(zhǔn)也為光電子器件的設(shè)計(jì)、制造和使用提供了技術(shù)指導(dǎo)。


標(biāo)簽: 試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)

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