《SJ/T 11607-2016 指紋識別設(shè)備通用規(guī)范》標(biāo)準(zhǔn)

SJ/T 11607-2016《指紋識別設(shè)備通用規(guī)范》是一份針對指紋識別設(shè)備的標(biāo)準(zhǔn)文件。該標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了指紋識別設(shè)備的構(gòu)成、分類、要求、試驗方法、質(zhì)量評定程序、標(biāo)志、包裝、運輸和貯存等方面的要求。

該標(biāo)準(zhǔn)適用于各種類型的指紋識別設(shè)備，包括但不限于指紋考勤機(jī)、指紋門禁機(jī)、指紋鎖等。該標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了指紋識別設(shè)備的構(gòu)成，包括指紋采集器、指紋識別算法、處理器、存儲器、電源等部分。同時，該標(biāo)準(zhǔn)還規(guī)定了指紋識別設(shè)備的分類，包括嵌入式指紋識別設(shè)備和通用指紋識別設(shè)備兩類。

一、范圍：
本規(guī)范規(guī)定了指紋識別設(shè)備的構(gòu)成、分類、要求、試驗方法、質(zhì)量評定程序、標(biāo)志、包裝、運輸和貯存等。
本規(guī)范適用于各種類型指紋識別設(shè)備的研制、生產(chǎn)和檢驗等

二、試驗項目：
高低溫試驗、濕熱試驗、振動試驗、沖擊試驗、包裝跌落試驗等。

三、試驗設(shè)備：
恒溫恒濕試驗箱、振動試驗機(jī)、沖擊試驗臺、跌落試驗機(jī)等。

四、設(shè)備廠商：
環(huán)儀儀器

五、試驗程序（部分）：

工作溫度下限
按 GB/T 2423.1-2008“試驗Ad”進(jìn)行。受試樣品應(yīng)進(jìn)行初始測試。嚴(yán)酷程度取表 1 規(guī)定的工作溫度下限，加電運行檢查程序 2 h，受試樣品應(yīng)能正常工作?；謴?fù)時間為 2 h 。

貯存運輸溫度下限
按 GB/T 2423.1-2008“試驗Ab”進(jìn)行。嚴(yán)酷程度取表 1 規(guī)定的貯存運輸溫度下限。受試樣品在不工作條件下存放16 h。恢復(fù)時間為 2 h，并進(jìn)行最后測試。

沖擊
按GB/T 2423.5-2006“試驗Ea”進(jìn)行。受試樣品應(yīng)進(jìn)行初始測試，安裝時要注意重力影響，按表3規(guī)定值，在不工作條件下，分別對三個互相垂直軸線方向進(jìn)行沖擊，沖擊次數(shù)各為三次，試驗后進(jìn)行最后測試。