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《YD/T 2152-2010 光纖活動連接器可靠性要求及試驗方法》標(biāo)準(zhǔn)

時間:2024-02-22 08:54:35 作者:環(huán)儀小編 點擊:

YD/T 2152-2010《光纖活動連接器可靠性要求及試驗方法》是一項中華人民共和國通信行業(yè)標(biāo)準(zhǔn),規(guī)定了光纖活動連接器的可靠性要求和相應(yīng)的試驗方法。


一、范圍:
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了光纖活動連接器可靠性要求的相關(guān)術(shù)語和定義、分類、試驗項目、產(chǎn)品的壽命試驗項目要求、結(jié)構(gòu)及材料的可靠性試驗項目要求等,并規(guī)定了各項可靠性要求的試驗條件、試驗方法及評定標(biāo)準(zhǔn)。

本標(biāo)準(zhǔn)適用于所有類型和型號的光纖活動連接器。


二、試驗項目:
高低溫試驗、溫度循環(huán)試驗、加濕溫度循環(huán)試驗、振動試驗、碰撞試驗、鹽霧試驗等。


三、試驗設(shè)備:
恒溫恒濕試驗箱、鹽霧試驗機、振動試驗機、碰撞試驗臺等。


四、設(shè)備廠商:
環(huán)儀儀器

《YD/T 2152-2010 光纖活動連接器可靠性要求及試驗方法》標(biāo)準(zhǔn)(圖1)


五、試驗程序(部分):

高溫老化

a)試驗條件
溫度:+85℃;
持續(xù)時間:168h;

普通要求不需要在線記錄測試數(shù)據(jù),加嚴(yán)要求在間隔時間點記錄測試數(shù)據(jù)。

b)程序

1)普通要求
將試樣置于精度為±2℃的可恒溫的烘箱里,溫度85℃,保持恒溫168h。試驗結(jié)束后,以規(guī)定的速率將溫度降至室溫,停留2h后,測試并記錄插入損耗和回波損耗。


2)加嚴(yán)要求
將試樣置于精度為±2℃的可恒溫的烘箱里,在試樣的兩端分別接入光源和光功率計,如圖3所示。以規(guī)定的時間升溫,直至+85℃,保持恒溫168h。加嚴(yán)要求恒溫時間可依據(jù)產(chǎn)品使用要求,試驗時間可延長至500h、1000h和2000h。試驗結(jié)束后,以規(guī)定的速率將溫度降至室溫,停留2h后,測試并記錄插入損耗和回波損耗。


c)試驗后,樣品不得有機械損傷,如變形、龜裂、松弛等現(xiàn)象,參數(shù)變化量應(yīng)符合5.3.7節(jié)要求。

《YD/T 2152-2010 光纖活動連接器可靠性要求及試驗方法》標(biāo)準(zhǔn)(圖2)

標(biāo)簽: 測試標(biāo)準(zhǔn)

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