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目前，IC芯片、LED芯片等智能存儲芯片在出廠檢測時(shí)需要進(jìn)行極端環(huán)境下的可靠性測試，以測試確定芯片失效時(shí)所處的溫差區(qū)間。這些測試需要使用冷熱沖擊試驗(yàn)熱流儀，下面
冷熱沖擊試驗(yàn)熱流儀可進(jìn)行溫度沖擊試驗(yàn)測試，能提供精確的設(shè)置要求，可用于研究電子元件的熱阻，還可對電子元件進(jìn)行溫度循環(huán)和熱沖擊試驗(yàn)?？勺鳛殡娮釉筒牧媳碚鞯姆椒?/p>
高低溫?zé)崃鲀x是一種快速、控溫精確的高低溫沖擊系統(tǒng)，溫控范圍從-80C到+225℃，適用于各種應(yīng)用。高低溫?zé)崃鲀x可對對電子元件和材料進(jìn)行熱試驗(yàn)和表征，進(jìn)而提高它們
車身門蓋高低溫批量實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)能適應(yīng)高低溫、濕度交變的惡劣環(huán)境。為模擬汽車車門開關(guān)時(shí)所處的工作環(huán)境，車門開關(guān)耐久試驗(yàn)方案應(yīng)考慮不同的試驗(yàn)環(huán)境，需滿足的環(huán)境溫度范圍:
車門車蓋溫度環(huán)境疲勞試驗(yàn)系統(tǒng)的使用過程中，需要對前后蓋試驗(yàn)運(yùn)行中的故障進(jìn)行判，下面，我們通過實(shí)際案例，來看看這些故障判斷的主要內(nèi)容有哪些。前后蓋試驗(yàn)運(yùn)行中的故障
汽車門蓋高低溫耐久試驗(yàn)臺是用于對車身功能部件開關(guān)耐久性進(jìn)行確認(rèn)。將車門和開關(guān)車門時(shí)必需的附件一并裝配到實(shí)車或自車身上，在試驗(yàn)臺上進(jìn)行通常開關(guān)耐久試驗(yàn)和過開度耐久
汽車閉合件溫度環(huán)境疲勞試驗(yàn)過程中，通過人機(jī)交互界面設(shè)置測試需求，通過CAN總線發(fā)送給門測試控制器，門測試控制器根據(jù)需求控制電磁閥通斷電來帶動氣缸運(yùn)動，并通過四連
在車門關(guān)閉的過程中，車門速度是一個(gè)動態(tài)變化的值，關(guān)門速度值的大小與所選取的速度測量點(diǎn)位置密切相關(guān)，在對車身做高低溫開閉耐久實(shí)驗(yàn)室，如何選擇試驗(yàn)關(guān)閉速度，是關(guān)系到
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