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光電模塊是一個(gè)整體集合，其中包含許多電子元器件，其中以LED最為重要，是光電模塊工作的核心器件。光電模塊在高溫下進(jìn)行加速壽命試驗(yàn)必須確定一系列的參數(shù)，包括(但不
JESD22-A103高溫儲(chǔ)存試驗(yàn)箱是半導(dǎo)體、光電、LED等領(lǐng)域必備的測(cè)試設(shè)備，用于測(cè)試和確定產(chǎn)品在高溫加速老化試驗(yàn)過程仲產(chǎn)品的特性，高溫儲(chǔ)存試驗(yàn)箱屬模擬氣候環(huán)
JESD22偏壓雙85濕熱試驗(yàn)機(jī)適用于半導(dǎo)體、芯片、光電產(chǎn)品的高溫高濕試驗(yàn)，在半導(dǎo)體行業(yè)則需要做偏壓濕熱試驗(yàn)，偏壓濕熱試驗(yàn)屬于老化試驗(yàn)的一種，老化測(cè)試（Burn
根據(jù)國(guó)際半導(dǎo)體標(biāo)準(zhǔn)化組織（JEDEC）的要求，半導(dǎo)體設(shè)計(jì)和制造企業(yè)可以自行評(píng)估旗下產(chǎn)品的可靠性，偏壓高溫高濕試驗(yàn)則是其中一項(xiàng)重要試驗(yàn)項(xiàng)目，偏壓高溫高濕試模擬了“
半導(dǎo)體行業(yè)偏壓濕熱試驗(yàn)箱的設(shè)計(jì)，符合實(shí)驗(yàn)條件模擬了“85/85”穩(wěn)態(tài)濕度壽命試驗(yàn)(JESD22-A101)的失效機(jī)理，即在讓元件長(zhǎng)時(shí)間承受電氣性stress高溫
以往半導(dǎo)體廠商依據(jù)ICE標(biāo)準(zhǔn)（85%rh相對(duì)濕度85℃熱環(huán)境）對(duì)半導(dǎo)體元件進(jìn)行長(zhǎng)時(shí)間（＞1000hrs）靜態(tài)老化，使其失效周期加速顯現(xiàn)。JESD22-A110高
隨著電子技術(shù)的飛速發(fā)展。半導(dǎo)體元器件作為組成各種電子電路的核心元件，不斷應(yīng)用于各種嚴(yán)酷惡劣的環(huán)境。為了模擬更嚴(yán)酷的條件來縮短測(cè)試周期和即時(shí)的電氣特性跟蹤監(jiān)控的方
JESD22高加速應(yīng)力試驗(yàn)箱用于評(píng)估非氣密性封裝IC器件（固態(tài)設(shè)備）在高溫高濕條件下的運(yùn)行可靠性，對(duì)芯片、半導(dǎo)體等其他元器件進(jìn)行溫濕度偏壓（不偏壓）高加速應(yīng)力壽
