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高壓蒸煮高溫高濕試驗箱用于產(chǎn)品作加速壽命試驗，使用于在產(chǎn)品的設(shè)計階段，用于快速暴露產(chǎn)品的缺陷和薄弱環(huán)節(jié)，測試其制品的耐厭性、氣密性。下面，我們來了解一下高壓蒸煮
高加速高壓蒸煮濕熱試驗箱用于評估非密封封裝固態(tài)設(shè)備在正常（環(huán)境）運行期間可能遇到潮濕環(huán)境的可靠性。HAST 也稱為壓力鍋測試 (PCT) 或不飽和壓力鍋測試，其
高壓蒸煮試驗箱用于多層線路板、光伏組件、EVA、IC、LED、LCD、磁性材料、高分子材料等產(chǎn)品之密封性能的檢測，測試其制品的耐壓性，氣密性。待測產(chǎn)品被置于嚴苛
眾所周知，光電產(chǎn)品高壓蒸汽濕熱試驗機是用于光電產(chǎn)品的高加速濕熱試驗，加速壽命試驗的目的是提高環(huán)境應(yīng)力(如：溫度)與工作應(yīng)力(施加給產(chǎn)品的電壓、負荷.等)，加快試
光電器件在使用光電器件高加速濕熱試驗箱做測試過程中，由于高溫高濕的原因，會受到不同的失效情況，為了加速光電器件的吸濕速率以及縮短試驗時間，可使用加速試驗設(shè)備(光
光電產(chǎn)品可靠性測試領(lǐng)域，高加速溫濕度應(yīng)力測試，俗稱HAST測試， 高加速溫度和濕度應(yīng)力測試需要使用光電產(chǎn)品高加速溫濕度試驗箱，用于評估電光電產(chǎn)品的可靠性和耐用性
很多光電器件必須長時間工作在高低溫等各種惡劣環(huán)境下，高低溫失效問題變得越來越嚴重。針對電器件的高低溫失效問題，研究低溫環(huán)境下器件的電特性規(guī)律和各種參數(shù)隨溫度變化
針對光電產(chǎn)品開展高低溫循環(huán)試驗。試驗過程中每間隔一定的循環(huán)次數(shù)，對器件進行光電性能、杜瓦漏熱、制冷器特性等性能參數(shù)的測試和分析。高低溫循環(huán)試驗需確定以下試驗參數(shù)
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