適用行業(yè)：IC半導(dǎo)體、連接器、線路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏組件等
產(chǎn)品用途：HAST試驗(yàn)箱試驗(yàn)的目的是提高環(huán)境應(yīng)力(如：溫度)與工作應(yīng)力(施加給產(chǎn)品的電壓、負(fù)荷等)，加快試驗(yàn)過程，縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗(yàn)時(shí)間，用于調(diào)查分析何時(shí)出現(xiàn)電子元器件，和機(jī)械零件的摩耗和使用壽命的問題，使用壽命的故障分布函數(shù)呈什么樣的形狀，以及分析失效率上升的原因所進(jìn)行的試驗(yàn)。
產(chǎn)品說明：
高度加速壽命試驗(yàn)機(jī)的目的是提高環(huán)境應(yīng)力(如：溫度)與工作應(yīng)力(施加給產(chǎn)品的電壓、負(fù)荷等)，加 快試驗(yàn)過程，縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗(yàn)時(shí)間。
用于調(diào)查分析何時(shí)出現(xiàn)電子元器件和機(jī)械零件的磨耗和使用壽命的問題，使用壽命的故障分布函數(shù)呈什么樣的形狀，以及分析失效率上升的原因所進(jìn)行的試驗(yàn)。
隨著半導(dǎo)體可靠性的提高，目前大多半導(dǎo)體器件能承受長(zhǎng)期的THB試驗(yàn)而不會(huì)產(chǎn)生失效，因此用來確定成品質(zhì)量的測(cè)試時(shí)間也相應(yīng)增加了許多。為了提高試驗(yàn)效率、減少試驗(yàn)時(shí)間，采用了壓力蒸煮鍋試驗(yàn)方法。
壓力蒸煮鍋試驗(yàn)方法主要分成兩種類型：即PCT和USPCT(HAST) 現(xiàn)在壓力蒸煮鍋試驗(yàn)作為濕熱加速試驗(yàn)被IEC(國(guó)際電工委員會(huì))所標(biāo)準(zhǔn)化。
技術(shù)參數(shù)：
飽和蒸汽壽命試驗(yàn)機(jī)規(guī) 格 | HY-PCT-250 | HY-PCT-350 | HY-PCT-450 | HY-PCT-650 |
內(nèi)箱尺寸(Inside dimensions (W ?H?D) cm) | ￠250×300 | ￠350×400 | ￠450×500 | ￠650×600 |
外箱尺(Outsidedimensions (W?H?D) cm) | 500×450×650 | 600×550×750 | 700×650×850 | 700×650×850 |
內(nèi)箱材料(Internal m*terial) | 不銹鋼#316 | |||
外箱材料(External m*terial) | 噴塑 | |||
溫度范(Temperaturerange) | +100℃～132℃(可選購(gòu)達(dá)147℃) | |||
結(jié)構(gòu) (Structure) | 標(biāo)準(zhǔn)壓力容器 | |||
加濕系統(tǒng)(Humidificationsystem) | 電熱管 | |||
加濕給水系統(tǒng)(Humidification water supply) | 手動(dòng)加水 | |||
壓力范圍 | 0～2kg/c㎡(可選購(gòu)達(dá)3kg/c㎡) | |||
電壓(V) | 220V~240V 50/60HZ單相 | |||
