IEC-60068-2-14NB、JESC22-A14C、IPC-9701之規(guī)范條件列表
時間:2022-07-19 09:11:10 作者:環(huán)儀小編 點擊:次
IEC-60068-2-14NB、JESC22-A14C、IPC-9701之規(guī)范條件列表
◎RAMP試驗條件列表 |
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試驗名稱 | 沖擊溫度1 | 沖擊溫度2 | 溫變率(Ramp) | 檢查 |
大哥大用PCB板 |
125℃ |
-40℃ |
5℃/min |
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錫須試驗 |
-40℃ |
85℃ |
5℃/min |
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無鉛合金(thermal Cycling test) |
0℃ |
100℃ |
20min(5℃/min) |
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覆晶技術(shù)的極端溫度測試-規(guī)格1-范圍1 |
-120℃ |
115℃ |
5℃/min |
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覆晶技術(shù)的極端溫度測試-規(guī)格1-范圍2 |
-120℃ |
85℃ |
5℃/min |
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無鉛PCB(thermal Cycling test) |
-40℃ |
125℃ |
30min(5.5℃/min) |
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TFBGA對固定焊錫的疲勞模型 |
40℃ |
125℃ |
15min(5.6℃/min) |
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錫鉍合金焊接強(qiáng)度 |
- 40℃ |
125℃ |
8℃/min~20℃/min |
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JEDEC JESD22-A104 溫度循環(huán)測試(TCT) |
-40℃ |
125℃ |
20min(8℃/min) |
100小時檢查一次 |
INTEL焊點可靠度測試 |
-40℃ |
85℃ |
15min(8.3℃/min) |
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CSP PUB與焊錫溫度循環(huán)測試 |
-20℃ |
110℃ |
15min(8.6℃/min) |
|
MIL-STD-8831 |
65℃ |
155℃ |
10min(9℃/min) |
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CR200315 |
+100℃ |
-0℃ |
10min(10℃/min) |
|
IBM-FR4板溫度循環(huán)測試 |
0℃ |
100℃ |
10min(10℃/min) |
|
溫度循環(huán)斜率對焊錫的疲勞壽命-1 |
0℃ |
100℃ |
10℃/min |
|
JEDEC JESD22-A104-A-條件1 |
0℃ |
100℃ |
10℃/min |
|
JEDEC JESD22-A104-A-條件1 |
0℃ |
100℃ |
10℃/min |
|
GR-1221-CORE |
70~85℃ |
-40℃ |
10℃/min |
|
GR-1221-CORE |
-40℃ |
70℃ |
10℃/min |
放置11個sample |
環(huán)氧樹脂電路板-極限試驗 |
-60℃ |
100℃ |
10℃/min |
|
光纜 -材料特性試驗 |
-45℃ |
80℃ |
10℃/min |
|
汽車音響-特性評估 |
-40℃ |
80℃ |
10℃/min |
|
汽車音響-生産ESS |
-20℃ |
80℃ |
10℃/min |
|
JEDEC JESD22-A104B(July 2000)-J形式 |
0℃ |
100℃ |
10℃~14℃/min |
200cycle檢查一次,2000cycle進(jìn)行拉力試驗 |
JEDEC JESD22-A104-A-條件2 |
-40℃ |
125℃ |
11℃/min |
(循環(huán)數(shù)為測試到待測品故障為止) |
JEDEC JESD22-A104-A-條件2 |
-40℃ |
125℃ |
11℃/min |
|
比較IC包裝的熱量循環(huán)和SnPb焊接-條件2 |
-40℃ |
125℃ |
11℃/min |
|
裸晶測試(Bare die test) |
-40℃ |
125℃ |
11℃/min |
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芯片級封裝可靠度試驗(WLCSP) |
-40℃ |
125℃ |
11℃/min |
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無鉛CSP產(chǎn)品-溫度循環(huán)可靠度測試 |
-40℃ |
125℃ |
15min(11℃/min) |
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IEC 60749-25-G(JESD22-A104B) |
+125 |
-40℃ |
15℃/min以下 |
|
IEC 60749-25-I(JESD22-A104B) |
+115 |
-40℃ |
15℃/min以下 |
|
IEC 60749-25-J(JESD22-A104B) |
+100 |
0℃ |
15℃/min以下 |
|
IEC 60749-25-K(JESD22-A104B) |
+125 |
0℃ |
15℃/min以下 |
|
IEC 60749-25-L(JESD22-A104B) |
ㄚ110 |
-55℃ |
15℃/min以下 |
|
IEC 60749-25-N(JESD22-A104B) |
ㄚ80 |
-30℃ |
15℃/min以下 |
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IEC 60749-25-O(JESD22-A104B) |
ㄚ125 |
-25℃ |
15℃/min以下 |
|
家電用品 |
25℃ |
100℃ |
15℃/min |
|
計算機(jī)系統(tǒng) |
25℃ |
100℃ |
15℃/min |
|
通訊系統(tǒng) |
25℃ |
100℃ |
15℃/min |
|
民用航空器 |
0℃ |
100℃ |
15℃/min |
|
工業(yè)及交通工具-客艙區(qū)-1 |
0﹠ |
100﹠ |
15﹠/min |
|
工業(yè)及交通工具-客艙區(qū)-2 |
-40﹠ |
100﹠ |
15﹠/min |
|
引擎蓋下環(huán)境-1 |
0℃ |
100℃ |
15℃/min |
|
引擎蓋下環(huán)境-2 |
-40℃ |
100℃ |
15℃/min |
|
DELL液晶顯示器 |
0℃ |
100℃ |
15℃/min |
|
JEDEC JESD22-A104B (July 2000)-G形式 |
-40℃ |
125℃ |
10~14min-16.5℃/min |
200cycle檢查一次,2000cycle進(jìn)行拉力試驗 |
IPC-9701-TC1 |
100℃ |
0℃ |
20℃/min |
|
IPC-9701-TC2 |
100℃ |
-25℃ |
20℃/min |
|
IPC-9701-TC3 |
125℃ |
-40℃ |
20℃/min |
|
IPC-9701-TC4 |
125℃ |
-55℃ |
20℃/min |
|
IPC-9701-TC5 |
100℃ |
-55℃ |
20℃/min |
|
溫度循環(huán)斜率對焊錫的疲勞壽命-2 |
0℃ |
100℃ |
20℃/min |
|
飛彈的電路板溫度循環(huán)試驗 |
-55℃ |
100℃ |
20℃/min |
試驗結(jié)束進(jìn)行送電測試 |
改進(jìn)導(dǎo)通孔系統(tǒng)信號完整-測試設(shè)備設(shè)計 |
0℃ |
100℃ |
5min(20℃/min) |
|
比較IC包裝的熱量循環(huán)和SnPb焊接-條件1 |
0℃ |
100℃ |
5min(20℃/min) |
|
PCB暴露在外界影響的ESS 測試方法 |
0℃ |
100℃ |
5min(20℃/min) |
|
GS-12-120 |
0℃ |
100℃ |
5min(20℃/min) |
|
半導(dǎo)體-特性評估試驗 |
-55℃ |
125℃ |
20℃/min |
|
連接器-壽命試驗 |
30℃ |
80℃ |
20℃/min |
|
樹脂成型品-品質(zhì)確認(rèn) |
-30℃ |
80℃ |
20℃/min |
|
DELL無鉛試驗條件(thermal Cycling) |
0℃ |
100℃ |
20℃/min |
|
DELL液晶顯示器計算機(jī) |
-40℃ |
65℃ |
20℃/min |
|
覆晶技術(shù)的極端溫度測試-規(guī)格2-范圍2 |
-120℃ |
85℃ |
10min(20.5℃/min) |
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環(huán)氧樹脂電路板-加速試驗 |
-30℃ |
80℃ |
22℃/min |
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汽車電器 |
+80℃ |
-40℃ |
24℃/min |
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光簽接頭 |
-40℃ |
85℃ |
24℃/min |
10cycle檢查一次 |
測試Sn-Ag焊劑在板子的疲勞效應(yīng) |
-15℃ |
105℃ |
25℃/min |
0、250、500、1000cycle電子顯微鏡 檢查一次 |
PCB的產(chǎn)品合格試驗 |
-40℃ |
85℃ |
5min(25℃/min) |
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PWB的嵌入電阻&電容的溫度循環(huán) |
-40℃ |
125℃ |
5.5min(30℃/min) |
|
電子原件焊錫可靠度-2-1 |
0℃ |
100℃ |
<30℃/min |
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電子原件焊錫可靠度-2-2 |
20℃ |
100℃ |
<30℃/min |
|
電子原件焊錫可靠度-2-3 |
-65℃ |
100℃ |
<30℃/min |
www.oven.cc | ◎RAMP試驗溫變率列表 | (斜率可控制) [5℃~30 ℃/min] |
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30℃/min |
電子原件焊錫可靠度、PWB的嵌入電阻&電容溫度循環(huán) MOTOROLA壓力傳感器溫度循環(huán)試驗 |
28℃/min |
LED汽車照明燈 |
25℃/min |
PCB的產(chǎn)品合格試驗、測試Sn-Ag焊劑在PCB疲勞效應(yīng) |
24℃/min |
光纖連接頭 |
20℃/min |
IPC-9701 、覆晶技術(shù)的極端溫度測試、GS-12-120、飛彈電路板溫度循環(huán)試驗 PCB暴露在外界影響的ESS 測試方法、DELL計算機(jī)系統(tǒng)&端子、改進(jìn)導(dǎo)通孔系統(tǒng)信號 比較IC包裝的熱量循環(huán)和SnPb焊接、溫度循環(huán)斜率對焊錫的疲勞壽命 |
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17℃/min |
MOTO
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15℃/min |
IEC 60749-25、JEDEC JESD22-A104B、MIL 、DELL液晶顯示器 電子組件溫度循環(huán)測試(家電、計算機(jī)、通訊、民用航空器、工業(yè)及交通工具、 汽車引擎蓋下環(huán)境) |
11℃/min |
無鉛CSP產(chǎn)品溫度循環(huán)測試、芯片級封裝可靠度試驗(WLCSP) 、IC包裝和SnPb焊接、 JEDEC JESD22-A104-A |
10℃/min |
通用汽車、 JEDEC JESD22-A104B-J、GR-1221-CORE 、 CR200315 、MIL JEDEC JESD22-A104-A-條件1 、溫度循環(huán)斜率對焊錫的疲勞壽命、 IBM-FR4板溫度循環(huán)測試 |
5℃/min |
錫須溫度循環(huán)試驗 |
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