冷熱沖擊試驗(yàn)箱適用于電子元?dú)饧陌踩阅軠y(cè)試提供可靠性試驗(yàn)、商品挑選實(shí)驗(yàn)等，另外根據(jù)此武器裝備實(shí)驗(yàn)，可提升商品的可信性和開(kāi)展商品的質(zhì)量管理。
冷熱沖擊試驗(yàn)箱因?yàn)樽隹煽啃栽O(shè)備，特別是軍工產(chǎn)品、科研院所等機(jī)構(gòu)做產(chǎn)品研發(fā)檢測(cè)用的。試驗(yàn)結(jié)果關(guān)系著是整個(gè)被測(cè)產(chǎn)品的命運(yùn)，測(cè)試結(jié)果決定著產(chǎn)品的合格與否及投放市場(chǎng)。試驗(yàn)設(shè)備的各種保護(hù)、系列安全裝置都應(yīng)該完善可靠。以保證實(shí)驗(yàn)室的財(cái)產(chǎn)及操作人身安全。
冷熱沖擊試驗(yàn)箱能模擬高溫與低溫之間的瞬間變化環(huán)境，用于檢測(cè)電子、汽車(chē)、橡膠、塑膠、航太科技、軍品科技及高級(jí)通信器材等產(chǎn)品在反復(fù)冷熱變化下的抵抗能力，從而判斷產(chǎn)品的可靠性及穩(wěn)定性能等參數(shù)是否合格，將提供給您預(yù)測(cè)和改進(jìn)產(chǎn)品的質(zhì)量和可靠性依據(jù)。
冷熱沖擊試驗(yàn)箱區(qū)別為粉層、超低溫區(qū)、檢測(cè)區(qū)三一部分，各個(gè)區(qū)殼體釆與眾不同之?dāng)酂針?gòu)造。
1．環(huán)境應(yīng)力篩選主要適用于電子產(chǎn)品，也可用于電氣、機(jī)電、光電和電化學(xué)產(chǎn)品。
2．環(huán)境應(yīng)力篩選主要用于產(chǎn)品的研制階段和生產(chǎn)階段。
3．電子產(chǎn)品的環(huán)境應(yīng)力篩選以GJB 1032為基礎(chǔ)，根據(jù)受篩產(chǎn)品特點(diǎn)進(jìn)行適當(dāng)?shù)募舨?。非電子產(chǎn)品環(huán)境應(yīng)力篩選尚沒(méi)有相應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)，其篩選應(yīng)力種類(lèi)和量值只能借鑒GJB 1032并結(jié)合產(chǎn)品結(jié)構(gòu)特點(diǎn)確定。對(duì)于已知脆弱、經(jīng)受不住篩選應(yīng)力的硬件，可以降低應(yīng)力或不參與篩選，不參與篩選的硬件必須在適當(dāng)?shù)奈募姓f(shuō)明。
4．環(huán)境應(yīng)力篩選的效果主要取決于施加的環(huán)境應(yīng)力、電應(yīng)力水平和檢測(cè)儀表的能力。施加的環(huán)境應(yīng)力和電應(yīng)力的大小決定了能否將潛在缺陷變?yōu)楣收希粰z測(cè)能力的大小決定了能否將已變成故障的潛在缺陷準(zhǔn)確地找出來(lái)。因此，環(huán)境應(yīng)力篩選可看作是質(zhì)量控制檢查過(guò)程的延伸。
5．環(huán)境應(yīng)力篩選應(yīng)在每一組裝層次上100%地進(jìn)行，以剔除低層次產(chǎn)品組裝成高層次產(chǎn)品過(guò)程中引入的缺陷和接口方面的缺陷，對(duì)備件也應(yīng)實(shí)施相應(yīng)層次的環(huán)境應(yīng)力篩選。
6．環(huán)境應(yīng)力篩選所使用的環(huán)境條件和應(yīng)力施加程序應(yīng)著重于能發(fā)現(xiàn)引起早期故障的缺陷，而不需對(duì)使用環(huán)境應(yīng)力進(jìn)行準(zhǔn)確模擬。環(huán)境應(yīng)力一般是依次施加，并且環(huán)境應(yīng)力的種類(lèi)和量值在不同裝配層次上可以調(diào)整。
7．應(yīng)制定環(huán)境應(yīng)力篩選大綱，大綱中應(yīng)確定每個(gè)產(chǎn)品的*短環(huán)境應(yīng)力篩選時(shí)間、無(wú)故障檢驗(yàn)時(shí)間，以及每個(gè)產(chǎn)品的最長(zhǎng)環(huán)境應(yīng)力篩選時(shí)間。
