半導(dǎo)體器件的低氣壓試驗(yàn)

環(huán)境高海拔模擬實(shí)驗(yàn)室主要用于航空、航天、電子、國(guó)防、科研和其它工業(yè)部門確定電工的電子科技產(chǎn)品(包括元器件、材料和儀器儀表)在高低溫低氣壓?jiǎn)雾?xiàng)或同時(shí)作用下，對(duì)試件進(jìn)行貯存運(yùn)輸可靠性試驗(yàn)，并可對(duì)試件通電進(jìn)行電氣性能參數(shù)的測(cè)試。

半導(dǎo)體器件的低氣壓試驗(yàn)，需要用到高海拔環(huán)境模擬實(shí)驗(yàn)室，下面我們了解一下該試驗(yàn)方法

試驗(yàn)設(shè)備：環(huán)境高海拔模擬實(shí)驗(yàn)室

設(shè)備品牌：環(huán)儀儀器

產(chǎn)品型號(hào)：HYLA-2000

試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 4937.2-2006

1.試驗(yàn)程序

樣品應(yīng)按規(guī)定放置在密封室內(nèi)，并按規(guī)定把氣壓減小到表1中的某個(gè)試驗(yàn)條件。把樣品保持在規(guī)定的氣壓下，對(duì)它們進(jìn)行規(guī)定的試驗(yàn)。在試驗(yàn)期間及試驗(yàn)前的20 min內(nèi)，試驗(yàn)溫度應(yīng)為25℃±10℃。對(duì)器件施加規(guī)定的電壓，在從常壓到規(guī)定的最低氣壓并恢復(fù)到常壓的整個(gè)過(guò)程中監(jiān)測(cè)器件是否出現(xiàn)故障。

2.試驗(yàn)測(cè)量

連接器件，進(jìn)行測(cè)量，并且在整個(gè)抽氣過(guò)程中施加規(guī)定的電壓。用微安表或示波器監(jiān)視施加最大電壓的器件引出端，從直流到30MHz范圍內(nèi)看其是否出現(xiàn)電暈放電電流。在未放置試驗(yàn)器件的情況下，施加適用的試驗(yàn)條件，校準(zhǔn)試驗(yàn)線路電流，以保證試驗(yàn)數(shù)據(jù)真實(shí)反映被試器件的特性。

3.暴露后處理

在試驗(yàn)的最后，將樣品從密封室中移出并在標(biāo)準(zhǔn)大氣條件下保持2 h~24 h。樣品上吸附的冰和水汽應(yīng)預(yù)先除去。