以往半導(dǎo)體廠商依據(jù)ICE標(biāo)準(zhǔn)（85%rh相對濕度85℃熱環(huán)境）對半導(dǎo)體元件進(jìn)行長時間（＞1000hrs）靜態(tài)老化，使其失效周期加速顯現(xiàn)。JESD22-A110高加速HAST試驗(yàn)箱的研發(fā)，是為了解決以上超長的實(shí)驗(yàn)周期，下面，我們結(jié)合實(shí)際使用要求，來看看高加速HAST試驗(yàn)箱的技術(shù)要求。
試驗(yàn)設(shè)備：環(huán)儀儀器 JESD22-A110高加速HAST試驗(yàn)箱
產(chǎn)品特性：解決超長的實(shí)驗(yàn)周期，不支持表面貼裝工藝，對整個實(shí)驗(yàn)過程中元件電氣性的檢測等問題。
技術(shù)要求：
1.HAST實(shí)驗(yàn)箱
功能：模擬高溫高濕環(huán)境，進(jìn)行加速老化測試。可在110~130℃溫度范圍內(nèi)保持相對濕度為85%。
技術(shù)參數(shù)：
2.系統(tǒng)工作原理
測試準(zhǔn)備：用戶通過中控模塊設(shè)置測試參數(shù)，包括溫度、濕度、測試時間等。
環(huán)境模擬：HAST實(shí)驗(yàn)箱根據(jù)設(shè)定參數(shù)，啟動高溫濕度控制系統(tǒng)，模擬實(shí)際使用環(huán)境。
信號采集：待測元件在測試過程中，相關(guān)數(shù)據(jù)通過多路信號適配板傳輸至多路數(shù)據(jù)采集模塊進(jìn)行實(shí)時監(jiān)測。
數(shù)據(jù)處理：采集到的數(shù)據(jù)被傳送至中控模塊，由控制處理器進(jìn)行處理和存儲。
結(jié)果分析：測試完成后，用戶可通過人機(jī)交互界面查看測試結(jié)果和分析數(shù)據(jù)。
技術(shù)優(yōu)勢：
1.HAST試驗(yàn)箱適用于各類半導(dǎo)體元件的HAST可靠性測試，能夠驗(yàn)證貼片封裝和接插元件在實(shí)際焊接條件下的使用壽命。中控模塊可設(shè)定HAST試驗(yàn)箱的溫濕度和電源電壓，實(shí)時記錄和分析多路數(shù)據(jù)，生成伏安特性圖供技術(shù)人員參考。
2.可對幾乎所有半導(dǎo)體和光伏元件進(jìn)行HAST實(shí)驗(yàn)，采用多路信號采樣可同時對多個樣本進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)化實(shí)驗(yàn)，且測試時間僅需ICE的十分之一。
3.設(shè)計(jì)了多重信號分路板，并配備濾波器和保護(hù)電路，有效過濾噪聲和防止浪涌，確保儀器安全和信號純凈。
如有JESD22-A110高加速HAST試驗(yàn)箱的選型疑問，可以咨詢環(huán)儀儀器相關(guān)技術(shù)人員。
