整體式升溫測(cè)試室是針對(duì)高性能電子產(chǎn)品模擬高溫惡劣環(huán)境的試驗(yàn)設(shè)備，是提高產(chǎn)品穩(wěn)定性、可靠性的重要實(shí)驗(yàn)設(shè)備，測(cè)試室溫度范圍+40℃~+100℃，適合所有電子產(chǎn)品的老化測(cè)試。對(duì)于測(cè)試室的選型，大家可以參考下面為大家介紹的內(nèi)容。
整體式升溫測(cè)試室選型參數(shù)：
整體式升溫測(cè)試室選型要求：
1.加熱試驗(yàn)
將溫度傳感器置于高溫老化試驗(yàn)箱工作空間內(nèi)任意一點(diǎn)，全功率加熱，記錄工作室溫度首次由室溫升至最高工作溫度的時(shí)間，結(jié)果不應(yīng)超過(guò)120分鐘。
2.表面溫度測(cè)試
高溫老化試驗(yàn)箱工作溫度首次達(dá)到最高工作溫度并穩(wěn)定2小時(shí)后，用溫度計(jì)測(cè)試箱體表面溫度，對(duì)最高工作溫度不超過(guò)200℃的試驗(yàn)箱，表面溫度不應(yīng)大于室溫加35℃；最高工作溫度超過(guò)200℃，表面溫度應(yīng)按公式確定。
3.絕緣電阻測(cè)試
試驗(yàn)按GB998中6.2規(guī)定的方法進(jìn)行，其結(jié)果應(yīng)與電加熱器接線(xiàn)端子（含引出線(xiàn)）對(duì)控制系統(tǒng)開(kāi)路時(shí)進(jìn)行1500V、交流50H、1min的絕緣強(qiáng)度試驗(yàn)相一致，絕緣不應(yīng)被擊穿。
4. 介電強(qiáng)度測(cè)試
試驗(yàn)按GB998中6.3條的規(guī)定進(jìn)行，當(dāng)試驗(yàn)結(jié)果符合電加熱器接線(xiàn)端子（含引出線(xiàn)）與控制系統(tǒng)斷路要求時(shí)，外殼應(yīng)能承受1500V、交流50H，歷時(shí)1min的介電強(qiáng)度試驗(yàn)，絕緣不應(yīng)被擊穿。
5.噪音測(cè)試
按照Z(yǔ)BN61012規(guī)定的方法進(jìn)行測(cè)試，結(jié)果整機(jī)噪聲不高，為75dB(A)。
