《GB/T 2423.21-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗M：低氣壓》標(biāo)準(zhǔn)

《GB/T 2423.21-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗M：低氣壓》是中國國家標(biāo)準(zhǔn)，屬于《GB/T 2423 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗》系列標(biāo)準(zhǔn)的第2部分，主要規(guī)定了電工電子產(chǎn)品在低氣壓環(huán)境下的試驗方法和評定標(biāo)準(zhǔn)。

該標(biāo)準(zhǔn)適用于電工電子產(chǎn)品的低氣壓環(huán)境試驗，旨在通過模擬產(chǎn)品在高海拔地區(qū)或高空航行等低氣壓環(huán)境下的使用情況，評估產(chǎn)品的適應(yīng)性和可靠性，提高產(chǎn)品的質(zhì)量和可靠性。

一、范圍：
本部分適用于室溫條件下的低氣壓試驗。
本試驗的目的是用于確定元件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在低氣壓條件下貯存，運輸或使用的適應(yīng)性。注:在高溫和低氣壓綜合或低溫和低氣壓綜合環(huán)境下貯存、運輸或使用的產(chǎn)品，這種綜合環(huán)境對于施加于產(chǎn)品上的應(yīng)力或失效機理的影響是十分重要的，應(yīng)按下列標(biāo)準(zhǔn)進行試驗:
1.GB/T 2423.25電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法︰試驗Z/AM;低溫/低氣壓綜合試驗
2.GB/T 2423.26電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法，試驗Z/BM;高溫/低氣壓綜合試驗

二、試驗設(shè)備：
高低溫低氣壓試驗箱

三、部分試驗條件：
1. 試驗箱(室)內(nèi)的溫度應(yīng)在規(guī)定的試驗標(biāo)準(zhǔn)大氣條件溫度范圍內(nèi)。
當(dāng)不要求樣品在運行狀態(tài)下進行試驗時，樣品應(yīng)在不包裝、不通電、“準(zhǔn)備使用"狀態(tài)，按其正常位置(除非另有規(guī)定)放入試驗箱(室)內(nèi)。

2. 將試驗箱(室)內(nèi)的氣壓降低到符合規(guī)定嚴(yán)酷等級的值，如有需要，相關(guān)規(guī)范可規(guī)定氣壓變化速度不大于10 kPa/ min。

3. 當(dāng)要求樣品在運行狀態(tài)下進行試驗時，樣品應(yīng)通電或加電氣負(fù)載，應(yīng)檢查確定試驗樣品是否能滿足相關(guān)規(guī)范規(guī)定的功能。試驗樣品可按規(guī)定的持續(xù)時間保持在運行狀態(tài)，或是按相關(guān)規(guī)范的要求斷開電源。

根據(jù)產(chǎn)品的設(shè)計要求和使用要求，對試驗結(jié)果進行評定，判斷產(chǎn)品是否符合要求。評定結(jié)果應(yīng)做好記錄，并及時反饋給產(chǎn)品設(shè)計、生產(chǎn)和使用部門。

該標(biāo)準(zhǔn)的實施有助于提高電工電子產(chǎn)品在低氣壓環(huán)境下的可靠性和適應(yīng)性，促進電工電子產(chǎn)品行業(yè)的發(fā)展和進步。