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《GB/T 18239-2000 集成電路(IC)卡讀寫機(jī)通用規(guī)范》標(biāo)準(zhǔn)

時間:2023-09-04 08:52:48 作者:環(huán)儀小編 點(diǎn)擊:

GB/T 18239-2000 是中國國家標(biāo)準(zhǔn),標(biāo)題為《集成電路(IC)卡讀寫機(jī)通用規(guī)范》(General Specification for Integrated Circuit (IC) Card Reader-Writer)。該標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了集成電路卡讀寫機(jī)的技術(shù)要求和測試方法,以確保這種類型的設(shè)備在讀寫集成電路卡(通常稱為IC卡或智能卡)時具有一定的性能和可靠性。


一、范圍:
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了集成電路(IC)卡讀寫機(jī)(以下簡稱產(chǎn)品)的技術(shù)要求、試驗(yàn)方法和檢驗(yàn)規(guī)則、以及標(biāo)志、包裝、運(yùn)輸和貯存要求。

本標(biāo)準(zhǔn)適用于IC卡讀寫機(jī)產(chǎn)品。


二、試驗(yàn)項(xiàng)目:
高低溫試驗(yàn)、濕熱試驗(yàn)、振動試驗(yàn)、沖擊試驗(yàn)、跌落試驗(yàn)等。


三、試驗(yàn)設(shè)備:
恒溫恒濕試驗(yàn)箱、振動試驗(yàn)臺、跌落試驗(yàn)機(jī)等。


四、設(shè)備廠商:
環(huán)儀儀器


《GB/T 18239-2000 集成電路(IC)卡讀寫機(jī)通用規(guī)范》標(biāo)準(zhǔn)(圖1)


五、試驗(yàn)程序(部分):

工作溫度下限試驗(yàn)

按GB/T 2423.1中試驗(yàn)Ab進(jìn)行。(允許用非保溫性物品將產(chǎn)品包裹或密封,以防產(chǎn)品結(jié)霜、凝水。)按表1要求的工作溫度上限值加電運(yùn)行檢查程序,產(chǎn)品應(yīng)正常工作。


貯運(yùn)溫度下限試驗(yàn)

將產(chǎn)品放在恒溫箱中,按表1要求將溫度下降到貯運(yùn)溫度下限,恒溫16 h,然后恢復(fù)到常溫,恢復(fù)時間2h,再進(jìn)行檢測應(yīng)能正常工作。
按表1要求的工作溫度下限值加電運(yùn)行檢查程序,產(chǎn)品應(yīng)正常工作。


工作溫度上限試驗(yàn)
按GB/T 2423.2中試驗(yàn)Bd進(jìn)行。


貯運(yùn)溫度上限試驗(yàn)

將產(chǎn)品放在恒溫箱中,把溫度升高到表1要求的貯運(yùn)溫度的上限,恒溫16 h,然后恢復(fù)到常溫,恢復(fù)時間2h,再進(jìn)行檢測應(yīng)能正常工作。


通過遵循 GB/T 18239-2000 標(biāo)準(zhǔn),制造商可以生產(chǎn)符合要求的集成電路卡讀寫機(jī),以確保其在讀寫IC卡時具有可靠的性能。這些設(shè)備廣泛用于各種應(yīng)用領(lǐng)域,如金融、身份驗(yàn)證、門禁控制、交通卡等。同時,該標(biāo)準(zhǔn)也為用戶和相關(guān)機(jī)構(gòu)提供了技術(shù)依據(jù),以選擇和使用適合其需求的集成電路卡讀寫機(jī)。


標(biāo)簽: 試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)

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