SJ/T 11461.5.1-2013是關(guān)于有機(jī)發(fā)光二極管顯示器(OLED)的環(huán)境試驗(yàn)方法的標(biāo)準(zhǔn),該標(biāo)準(zhǔn)詳細(xì)規(guī)定了有機(jī)發(fā)光二極管顯示器在各種環(huán)境條件下的測(cè)試要求和方法。
一、范圍:
SJ/T 11461 的本部分規(guī)定了評(píng)價(jià)有機(jī)發(fā)光二極管 (OLED) 顯示屏和模塊的機(jī)械耐久性及包裝運(yùn)輸?shù)脑囼?yàn)方法,同時(shí)盡可能考慮到IEC 60068 中規(guī)定的環(huán)境試驗(yàn)方法 。本部分是為評(píng)價(jià)OLED 顯示器件機(jī)械耐久性能而確定的統(tǒng)一優(yōu)選試驗(yàn)方法。
本部分規(guī)定了兩類機(jī)械試驗(yàn),一類與包裝運(yùn)輸環(huán)境有關(guān)。振動(dòng)、沖擊、靜態(tài)強(qiáng)度、四點(diǎn)彎折和剝產(chǎn)落試驗(yàn)適用于包裝運(yùn)輸環(huán)境。此外,機(jī)械試驗(yàn)也可按照應(yīng)用應(yīng)用類別進(jìn)行規(guī)定,如手機(jī)、便攜式電腦、顯示器和大尺寸電視應(yīng)用類別。因樣品尺寸或應(yīng)用類別需特殊考慮或有限條件的試驗(yàn)方法應(yīng)在標(biāo)準(zhǔn)中注明。
二、試驗(yàn)項(xiàng)目:
振動(dòng)試驗(yàn)、沖擊試驗(yàn)、運(yùn)輸?shù)湓囼?yàn)等。
三、試驗(yàn)設(shè)備:
跌落試驗(yàn)機(jī)、振動(dòng)試驗(yàn)機(jī)、沖擊試驗(yàn)臺(tái)等。
四、設(shè)備廠商:
環(huán)儀儀器
五、試驗(yàn)程序(部分):
運(yùn)輸?shù)湓囼?yàn):
試驗(yàn)包裝箱應(yīng)裝滿手機(jī)或筆記本電腦用OLED 模塊或顯示屏,如果試驗(yàn)樣品的數(shù)量不足未能填滿包裝箱,則可用無機(jī)械缺陷的虛擬樣本填補(bǔ)。確保試驗(yàn)包裝箱正常封裝,如同發(fā)貨狀態(tài)。相關(guān)規(guī)范應(yīng)給出試驗(yàn)樣品的包裝數(shù)量。
在大氣條件、跌落高度和包裝狀態(tài)都已規(guī)定的情況下,試驗(yàn)包裝箱置于所需的跌落高度位置,釋放包裝箱使其自由落體并碰撞剛性表面。按照 ISO 2248:1985 第 7 章和附錄的規(guī)定,及 ISO 2206 給出的標(biāo)識(shí)方法,試驗(yàn)包裝箱應(yīng)進(jìn)行面、棱和角跌落三種基本跌落方式。一種跌落方式進(jìn)行多次試驗(yàn),或 2 個(gè)~3個(gè)組合跌落方式的試驗(yàn),適用于檢測(cè)產(chǎn)品在運(yùn)輸和裝卸過程中承受各種垂直碰撞的機(jī)械耐久性 。
表7 給出的是移動(dòng)用 OLED 產(chǎn)品運(yùn)輸包裝箱跌落方式的試驗(yàn)順序。