《SJ/T 11379-2008 等離子體顯示器件 第4部分：氣候和機(jī)械試驗(yàn)方法》標(biāo)準(zhǔn)

SJ/T 11379-2008 是等離子體顯示器件的標(biāo)準(zhǔn)，該標(biāo)準(zhǔn)詳細(xì)規(guī)定了等離子體顯示器件的氣候和機(jī)械試驗(yàn)方法。該標(biāo)準(zhǔn)旨在確保等離子體顯示器件在各種氣候和機(jī)械條件下都能正常工作，并且具有一定的可靠性和穩(wěn)定性。

一、范圍：
本部分規(guī)定了氣候和機(jī)械的試驗(yàn)方法。

本部分適用于彩色等離子體顯示模塊（以下稱等離子體顯示器件）。

二、試驗(yàn)項(xiàng)目：
高低溫試驗(yàn)、溫濕度循環(huán)試驗(yàn)、恒定濕熱試驗(yàn)、低氣壓試驗(yàn)、振動(dòng)試驗(yàn)、沖擊試驗(yàn)等。

三、試驗(yàn)設(shè)備：
恒溫恒濕試驗(yàn)箱、低氣壓試驗(yàn)箱、振動(dòng)試驗(yàn)機(jī)、沖擊試驗(yàn)臺(tái)等。

四、設(shè)備廠商：
環(huán)儀儀器

五、試驗(yàn)程序（部分）：

高溫貯存試驗(yàn)：
a)試驗(yàn)用箱體內(nèi)的溫度應(yīng)與實(shí)驗(yàn)室內(nèi)溫度一致。當(dāng)?shù)入x子體顯示器件與實(shí)驗(yàn)室環(huán)境溫度一致后可按照5.6的要求送入試驗(yàn)用箱體，除非另有要求;

b)將箱體內(nèi)溫度升至要求嚴(yán)酷程度所對(duì)應(yīng)的溫度,并允許經(jīng)過一定的時(shí)間以使等離子體顯示器件達(dá)到溫度穩(wěn)定狀態(tài)（GB/T 2421-1999的4.8定義了溫度穩(wěn)定性)。箱體內(nèi)5 min內(nèi)的平均溫度變化的速度不超過3℃/min。試驗(yàn)溫度應(yīng)按照GB/T 2421-1999中4.6的要求進(jìn)行測(cè)試;

c)將等離子體顯示器件暴露于該高溫環(huán)境中，并且存放相關(guān)規(guī)范所規(guī)定的時(shí)間。當(dāng)溫度穩(wěn)定時(shí)即開始計(jì)時(shí);

d)如果相關(guān)規(guī)范有要求，可按6.1.4進(jìn)行中間測(cè)量;

e)試驗(yàn)時(shí)間到達(dá)后,等離子體顯示器件應(yīng)留在箱體內(nèi)并將溫度逐步降至測(cè)量用標(biāo)準(zhǔn)大氣條件所規(guī)定的值。箱體內(nèi)5min內(nèi)的平均溫度變化的速度不超過3℃/min。該過程結(jié)束后，等離子體顯示器件應(yīng)在箱體內(nèi)進(jìn)行恢復(fù)過程或其他適當(dāng)過程。