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一、產(chǎn)品簡介：常溫BIT測試老化柜是用于固態(tài)硬盤（SSD）常溫讀寫測試（BurnInTest，BIT）的試驗設備，老化柜可以提供固態(tài)硬盤運行所需要的穩(wěn)定溫度，為BIT測試提供保障。二、滿足標準：YD/...
固態(tài)硬盤（SSD）在生產(chǎn)過程中，需要進行一系列的試驗，可程序硬盤高低溫度BIT老化箱在SSD的應用中，是屬于溫濕度環(huán)境測試的一個重要試驗項目，下面是該試驗的過程。測試硬件：環(huán)儀儀器 可程序硬盤高低溫度...
一、產(chǎn)品簡介：可程式高低溫 SSD BIT老化試驗箱可用于SSD固態(tài)硬盤批量性進行高/低溫濕度老化測試，或用于PCB電路板、各類材料、電子產(chǎn)品等進行高低溫濕度老化測試。二、依據(jù)標準：YD/T 3824...
固態(tài)硬盤（SSD）在生產(chǎn)過程中，需要在高低溫環(huán)境下進行BIT老化測試，下面，我們根據(jù)實際要求，看看測試是怎么做的。測試硬件：環(huán)儀儀器 可編程高低溫 SSD BIT老化實驗箱測試軟件：BurnInTes...
一、產(chǎn)品簡介：BIT（Burn-In Test）測試就是使用BIT軟件對固態(tài)硬盤進行循環(huán)寫入測試，再放入高溫箱中靜置。PCIE SSD BIT測試柜可以提供SSD的BIT測試所需要的高溫老化環(huán)境，目的...
編輯 | 環(huán)儀儀器固態(tài)硬盤SSD BIT測試箱主要用于固態(tài)硬盤BIT（Burn-In Test）測試的試驗設備，固態(tài)硬盤的BIT測試可以加速芯片老化，做潛在失效分析，發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品的不足。對于BIT測試箱有...
固態(tài)硬盤的BIT測試需要用到BIT老化柜，固態(tài)硬盤如何在BIT老化柜里面做測試？下面是市面上主流固態(tài)硬盤廠商常用的試驗方法，下面我們來看看。固態(tài)硬盤BIT測試流程：試驗設備：環(huán)儀儀器固態(tài)PCIE通道B...
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