常溫BIT測試老化柜

一、產(chǎn)品簡介：
常溫BIT測試老化柜是用于固態(tài)硬盤（SSD）常溫讀寫測試（BurnInTest，BIT）的試驗設備，老化柜可以提供固態(tài)硬盤運行所需要的穩(wěn)定溫度，為BIT測試提供保障。

二、滿足標準：
YD/T 3824-2021 面向互聯(lián)網(wǎng)應用的固態(tài)硬盤測試規(guī)范
JEDEC 218

三、技術參數(shù)：

四、產(chǎn)品特點：
1、根據(jù)不同的要求提供測試電腦配置。
2、機柜采用1.0冷軋鋼板，外部烤漆處理，堅實耐用，美觀大方。
3、每層電腦采用抽屜式擺放，方便電腦散熱和后期維護。
4、機柜頂部配有220V散熱風扇，背板為高密度六角單開網(wǎng)孔門，通風率≥75%，門和側板為可拆卸式結構，保證測試電腦運行環(huán)境良好。
5、機柜底部有萬向輪和固定腳杯，方便移動設備。

五、測試要求：
SSD測試在實驗室常溫40℃的環(huán)境下進行的BIT測試，根據(jù)JEDEC 218的要求，整個測試過程所需要的測試時長為1000h，在剛啟動開始測試時，BMC通過MI協(xié)議獲取的SSD的NAND溫度值為40℃左右，當測試時長達到1000小時，NVME SSD就完成了在常溫環(huán)境下進行BIT的測試。