伴隨著工業(yè)化技術(shù)性的快速發(fā)展趨勢(shì)，電焊工、電子設(shè)備的主要用途日漸寬闊，所承受的自然環(huán)境標(biāo)準(zhǔn)也越來(lái)越繁雜多種多樣。電焊工、電子設(shè)備開(kāi)展環(huán)境模擬自然環(huán)境實(shí)驗(yàn)是確保其高品質(zhì)所不可或缺的關(guān)鍵步驟。自然環(huán)境標(biāo)準(zhǔn)的多元化和自然環(huán)境實(shí)驗(yàn)的必要性也對(duì)高低溫試驗(yàn)箱明確提出了更嚴(yán)苛的規(guī)定。
電子設(shè)備，無(wú)論是元器件構(gòu)件，整個(gè)設(shè)備，機(jī)器設(shè)備，必須開(kāi)展脆化和檢測(cè)。脆化和檢測(cè)并不是一個(gè)定義先脆化后檢測(cè).電子設(shè)備(全部商品全是那樣)根據(jù)生產(chǎn)加工后，產(chǎn)生了詳細(xì)的商品，早已能夠 充分發(fā)揮實(shí)用價(jià)值了，但應(yīng)用之后發(fā)覺(jué)會(huì)出現(xiàn)那樣那般的問(wèn)題，又發(fā)覺(jué)這種問(wèn)題絕大多數(shù)產(chǎn)生剛開(kāi)始的幾個(gè)小時(shí)至幾十鐘頭以內(nèi)，之后果斷就要求了電子設(shè)備的脆化和檢測(cè)，模仿或是等效電路商品的應(yīng)用情況。
這一全過(guò)程關(guān)鍵根據(jù)高低溫試驗(yàn)箱來(lái)模似特殊的自然環(huán)境進(jìn)行高低溫試驗(yàn)，把不太好的商品留到加工廠一切正常的商品給客戶，以確保買給客戶的商品是靠譜的或是是難題較少的，這就是高低溫試驗(yàn)的實(shí)際意義。
高低溫試驗(yàn)箱用于高溫儲(chǔ)存
電子元器件的故障主要是由機(jī)體和表面的各種物理化學(xué)變化引起的，與溫度密切相關(guān)。溫度升高后，化學(xué)反應(yīng)速度大大加快，故障過(guò)程也加快。有缺陷的部件可以及時(shí)暴露和清除。
半導(dǎo)體器件廣泛采用高溫篩選，能有效去除表面污染.鍵合不良.氧化層缺陷等是失效機(jī)制的器件。通常在最高結(jié)溫下儲(chǔ)存24至168小時(shí)。
高溫篩選簡(jiǎn)單、便宜，可以在許多部件中實(shí)現(xiàn)。高溫儲(chǔ)存后，可以穩(wěn)定電子元器件的參數(shù)性能，減少使用時(shí)的參數(shù)漂移。合理選擇各部件的熱應(yīng)力和篩選時(shí)間，防止新的故障機(jī)制。
高低溫試驗(yàn)箱用于篩選功率和電老化
在篩選過(guò)程中，在熱電應(yīng)力的綜合影響下，能夠有效的暴露出電子元器件本體和表面的多種潛在缺陷，是可靠性篩選的重要本身。
各種電子元器件通常在額定功率環(huán)境中老化數(shù)小時(shí)至168小時(shí)。有些產(chǎn)品，如集成電路，不能隨意改變條件，但可以選擇高溫工作方法，提高工作溫度，達(dá)到高應(yīng)力狀態(tài)。應(yīng)適當(dāng)選擇電子元器件的電應(yīng)力，可等于或略高于額定條件，但不能引入新的失效機(jī)制。
電源老化需要特殊的檢測(cè)設(shè)備，成本高，篩選時(shí)間不宜過(guò)長(zhǎng)。民用產(chǎn)品一般需要幾個(gè)小時(shí)，軍用高可靠性商品可以選擇100、168小時(shí)，航空級(jí)部件可選擇240小時(shí)甚至更長(zhǎng)的周期。
高低溫試驗(yàn)箱的溫度循環(huán)
電子設(shè)備在使用過(guò)程中會(huì)遇到不同的環(huán)境溫度條件。在熱脹冷縮的應(yīng)力影響下，熱匹配性能差的電子元器件容易出現(xiàn)故障。溫度循環(huán)篩選利用極高溫和極低溫之間的熱升冷縮應(yīng)力，可以有效去除熱性能缺陷的商品。電子元器件常用的篩選條件為-55℃～125℃，循環(huán)5～10次。
