MINI芯片高溫高濕試驗(yàn)機(jī)如何使用

MINI芯片高溫高濕試驗(yàn)可以用于芯片的溫濕度試驗(yàn)，國(guó)內(nèi)外標(biāo)準(zhǔn)也有關(guān)于芯片的溫濕度存儲(chǔ)試驗(yàn)。不管是溫濕度存儲(chǔ)試驗(yàn)還是高溫高濕試驗(yàn)，都需要高溫高濕試驗(yàn)機(jī)的配合使用來(lái)完成整改試驗(yàn)過(guò)程。

那么，芯片高溫高濕試驗(yàn)機(jī)是如何配合完成整個(gè)試驗(yàn)的？下面是MINI芯片高溫高濕試驗(yàn)機(jī)使用教程。

1. 準(zhǔn)備工作：
確保試驗(yàn)機(jī)處于良好的工作狀態(tài)，檢查設(shè)備的電源和連接是否正常。
清潔試驗(yàn)室內(nèi)部，確保無(wú)雜質(zhì)和污染物影響測(cè)試結(jié)果。

2. 樣品準(zhǔn)備：
準(zhǔn)備待測(cè)試的樣品，根據(jù)測(cè)試要求和標(biāo)準(zhǔn)選擇合適的樣品。并放置在高溫高濕試驗(yàn)機(jī)內(nèi)

3. 設(shè)定測(cè)試參數(shù)：
使用試驗(yàn)機(jī)的控制面板或操作界面，設(shè)定所需的溫度和濕度參數(shù)。確保設(shè)置符合測(cè)試要求。
根據(jù)《GB/T 4937.42-2023 半導(dǎo)體器件 機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法 第42部分：溫濕度貯存》標(biāo)準(zhǔn)的要求，需要設(shè)置這些參數(shù)：
a.溫度設(shè)置40℃，濕度設(shè)置90%，持續(xù)時(shí)間設(shè)置8000h。
b.溫度設(shè)置60℃，濕度設(shè)置90%，持續(xù)時(shí)間設(shè)置4000h。
c.溫度設(shè)置85℃，濕度設(shè)置85%，持續(xù)時(shí)間設(shè)置1000h。

4. 啟動(dòng)測(cè)試：
啟動(dòng)試驗(yàn)機(jī)，開(kāi)始溫度和濕度的控制和變化。
在測(cè)試過(guò)程中，實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)試驗(yàn)機(jī)內(nèi)部的溫度和濕度變化?？梢酝ㄟ^(guò)試驗(yàn)機(jī)的控制面板或數(shù)據(jù)記錄系統(tǒng)進(jìn)行監(jiān)控。

5. 結(jié)束測(cè)試：
根據(jù)測(cè)試數(shù)據(jù)，進(jìn)行數(shù)據(jù)分析和結(jié)果評(píng)估。比較測(cè)試結(jié)果與測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)或要求進(jìn)行對(duì)比。