整體式升溫老化房的試驗(yàn)要求

高溫老化試驗(yàn)可以通過(guò)幾種不同的方式影響產(chǎn)品的研究。整體式升溫老化房試驗(yàn)的溫度越高，完成加速老化研究所需的時(shí)間越短。高溫加速老化標(biāo)準(zhǔn)使用稱為“阿倫尼烏斯方程”的方程嗎，下面，我們來(lái)看看整體式升溫老化房的試驗(yàn)要求。

試驗(yàn)設(shè)備：環(huán)儀儀器 整體式升溫老化房

試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 2423.2-2008《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法》

試驗(yàn)描述：

加速老化標(biāo)準(zhǔn)使用稱為“阿倫尼烏斯方程（k=Ae-Ea/RT）”的方程。該方程的輸出告訴我們樣品應(yīng)在室內(nèi)放置多長(zhǎng)時(shí)間。如果室內(nèi)溫度為 55℃，并且我們實(shí)時(shí)測(cè)試 1 年，則加速老化研究將需要 40 天。如果我們將溫度升至 60℃，并實(shí)時(shí)測(cè)試 1 年，則加速老化研究將在 29 天后完成。

注意：這假設(shè) Q 10值為 2.0（最保守和默認(rèn)的選擇，如 F1980 中所述）和實(shí)際存儲(chǔ)溫度為 23℃。

標(biāo)準(zhǔn)中的要求：

在《GB/T 2423.2-2008》標(biāo)準(zhǔn)中，試驗(yàn)樣品分為非散熱和散熱樣品，兩者區(qū)別在于試驗(yàn)過(guò)程中，散熱樣品多了一項(xiàng)通電老化試驗(yàn)。即：非散熱和散熱樣品需要做溫度漸變高溫老化試驗(yàn)，散熱樣品多做一項(xiàng)通電溫度漸變老化試驗(yàn)。

老化試驗(yàn)的選擇：

我們可以做的一件事是同時(shí)進(jìn)行兩項(xiàng)加速老化研究。這將需要雙倍的樣本數(shù)量，但可能會(huì)加快研究中加速老化部分的速度。

我們會(huì)同時(shí)進(jìn)行這兩項(xiàng)研究，并在 29 天后測(cè)試第一項(xiàng)研究的樣品。如果我們發(fā)現(xiàn)與溫度過(guò)高相關(guān)的缺陷，我們將繼續(xù)進(jìn)行更長(zhǎng)時(shí)間的研究。如果我們測(cè)試了它們并且沒(méi)有不切實(shí)際的缺陷，我們可以結(jié)束 40 天的研究并使用 29 天研究的數(shù)據(jù)。