高溫老化試驗可以通過幾種不同的方式影響產(chǎn)品的研究。整體式升溫老化房試驗的溫度越高,完成加速老化研究所需的時間越短。高溫加速老化標準使用稱為“阿倫尼烏斯方程”的方程嗎,下面,我們來看看整體式升溫老化房的試驗要求。
試驗設(shè)備:環(huán)儀儀器 整體式升溫老化房
試驗標準:GB/T 2423.2-2008《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗B:高溫試驗方法》
.jpg)
試驗描述:
加速老化標準使用稱為“阿倫尼烏斯方程(k=Ae-Ea/RT)”的方程。該方程的輸出告訴我們樣品應(yīng)在室內(nèi)放置多長時間。如果室內(nèi)溫度為 55℃,并且我們實時測試 1 年,則加速老化研究將需要 40 天。如果我們將溫度升至 60℃,并實時測試 1 年,則加速老化研究將在 29 天后完成。
注意:這假設(shè) Q 10值為 2.0(最保守和默認的選擇,如 F1980 中所述)和實際存儲溫度為 23℃。
標準中的要求:
在《GB/T 2423.2-2008》標準中,試驗樣品分為非散熱和散熱樣品,兩者區(qū)別在于試驗過程中,散熱樣品多了一項通電老化試驗。即:非散熱和散熱樣品需要做溫度漸變高溫老化試驗,散熱樣品多做一項通電溫度漸變老化試驗。
老化試驗的選擇:
我們可以做的一件事是同時進行兩項加速老化研究。這將需要雙倍的樣本數(shù)量,但可能會加快研究中加速老化部分的速度。
我們會同時進行這兩項研究,并在 29 天后測試第一項研究的樣品。如果我們發(fā)現(xiàn)與溫度過高相關(guān)的缺陷,我們將繼續(xù)進行更長時間的研究。如果我們測試了它們并且沒有不切實際的缺陷,我們可以結(jié)束 40 天的研究并使用 29 天研究的數(shù)據(jù)。