很多光電器件必須長(zhǎng)時(shí)間工作在高低溫等各種惡劣環(huán)境下，高低溫失效問題變得越來越嚴(yán)重。針對(duì)電器件的高低溫失效問題，研究低溫環(huán)境下器件的電特性規(guī)律和各種參數(shù)隨溫度變化規(guī)律。因此，需要使用光電器件高低溫特性試驗(yàn)箱對(duì)其進(jìn)行實(shí)驗(yàn)研究。
光電器件高低溫特性試驗(yàn)箱的試驗(yàn)條件：
試驗(yàn)設(shè)備：環(huán)儀儀器 光電產(chǎn)品高低溫生命期實(shí)驗(yàn)箱
測(cè)試條件：
高低溫實(shí)驗(yàn)設(shè)計(jì)參考標(biāo)準(zhǔn)：美國(guó)軍事標(biāo)準(zhǔn) MIL-STD-750 方法 1051、國(guó)家軍事標(biāo)準(zhǔn)GJB-128A-97 方法 1051 和 JESD22-A104-C。
（1）器件常溫下初測(cè)，放入試驗(yàn)箱中從室溫開始升溫，恒溫 15min 后接著降溫，高低溫不斷循環(huán)，循環(huán)次數(shù) 20 次以上，可選取溫度點(diǎn)如 100℃、80℃、60℃、40℃、25℃、0℃、-10℃、-20℃、-30℃、-40℃、-50℃、-60℃，分別測(cè)試得到參數(shù)隨溫度變化規(guī)律。
（2）器件常溫下初測(cè)，將器件放置試驗(yàn)箱中，從室溫開始升溫，恒溫 15min 后降溫直至-60℃的低溫環(huán)境，溫度點(diǎn)跟上面測(cè)試相同，每隔 10min 測(cè)試器件的 I-V 特性，達(dá)到失效判據(jù)為止。
（3）選取上述的溫度點(diǎn)，分別對(duì)器件施加直流電應(yīng)力，每隔一段時(shí)間測(cè)試器件的I-V 特性，達(dá)到失效判據(jù)為止。
高低溫測(cè)試流程圖：
如對(duì)光電器件高低溫特性試驗(yàn)有疑問，可以咨詢環(huán)儀儀器相關(guān)技術(shù)人員。
