光電模塊是一個(gè)整體集合，其中包含許多電子元器件，其中以LED最為重要，是光電模塊工作的核心器件。光電模塊在高溫下進(jìn)行加速壽命試驗(yàn)必須確定一系列的參數(shù)，包括(但不限于)：試驗(yàn)持續(xù)時(shí)間、樣本數(shù)量、試驗(yàn)?zāi)康?、要求的置信度、需求的精度、費(fèi)用、加速因子、外場(chǎng)H環(huán)境H、試驗(yàn)環(huán)境、加速因子計(jì)算、威布爾分布斜率或β參數(shù)(β＜1表示早期故障，β＞1表示耗損故障)。
下面，我們來(lái)看看光電模塊的高溫存儲(chǔ)壽命試驗(yàn)。
光電模塊高溫存儲(chǔ)壽命性能測(cè)試：
試驗(yàn)設(shè)備：環(huán)儀儀器 高溫儲(chǔ)存壽命實(shí)驗(yàn)箱
確定加速因子：
1、現(xiàn)有模型，現(xiàn)有模型有：Arrhenius模型、Coffin2Manson模型和Norris2Lanzberg模型等，使用現(xiàn)有模型比用試驗(yàn)方法來(lái)確定加速因子節(jié)省時(shí)間，并且所需樣本少，但不是很精確，且模型變量的賦值較復(fù)雜；
2、通過(guò)試驗(yàn)確定的模型(需要大量試驗(yàn)樣本和時(shí)間)，若沒(méi)有合適的加速模型，就需要通過(guò)試驗(yàn)導(dǎo)出加速因子，先將樣本分成3個(gè)應(yīng)力級(jí)別：高應(yīng)力、中應(yīng)力、低應(yīng)力，定試驗(yàn)計(jì)劃確保在每一個(gè)應(yīng)力級(jí)別上產(chǎn)生相同的失效機(jī)理，這是確定加速因子較精確的方法，但需要較長(zhǎng)的時(shí)間和較多樣本。
測(cè)試過(guò)程：
1.采用總線多路復(fù)用器接收內(nèi)部測(cè)試板的輸出信號(hào)，總線多路復(fù)用器是一種綜合系統(tǒng)，通常包含一定數(shù)目的數(shù)據(jù)輸入，n個(gè)地址輸入，以二進(jìn)制形式選擇一種數(shù)據(jù)輸入，總線多路復(fù)用器有一個(gè)單獨(dú)的輸出，與選擇的數(shù)據(jù)輸入值相同，用于中等密度的自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)。
2.在自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)中配合臺(tái)式數(shù)字萬(wàn)用表、信號(hào)發(fā)生器等各種測(cè)試儀器，實(shí)現(xiàn)在計(jì)算機(jī)控制系統(tǒng)中的自動(dòng)化測(cè)試，擴(kuò)展儀器測(cè)試通道，DSP接收到內(nèi)部測(cè)試板輸出的發(fā)送光功率、接收光功率、溫度、SFP工作溫度、SFP工作電流這五個(gè)信號(hào)，并對(duì)這五個(gè)信號(hào)進(jìn)行處理，由串口轉(zhuǎn)換器輸出。
3.直接對(duì)整個(gè)光電模塊進(jìn)行加溫實(shí)驗(yàn)，采集光電模塊的5個(gè)關(guān)鍵參數(shù)在溫度變化下的采樣數(shù)據(jù)，對(duì)采樣數(shù)據(jù)利用阿倫尼斯模型進(jìn)行計(jì)算，從而評(píng)估光電模塊在正常情況下的壽命；避免了以LED的壽命來(lái)作為光電模塊壽命的不準(zhǔn)確性，且不需要?jiǎng)冸x出LED即可進(jìn)行測(cè)試，方便實(shí)驗(yàn)的成規(guī)模應(yīng)用；
以上就是光電模塊高溫存儲(chǔ)壽命性能測(cè)試講解，如對(duì)試驗(yàn)有疑問(wèn)，可以咨詢環(huán)儀儀器相關(guān)技術(shù)人員。
