存儲(chǔ)產(chǎn)品的高溫老化就是通過(guò)讓存儲(chǔ)產(chǎn)品進(jìn)行高溫的工作，測(cè)試其讀寫是否正常，來(lái)評(píng)價(jià)存儲(chǔ)產(chǎn)品的老化性能以及使用壽命。試驗(yàn)過(guò)程可以使用高溫存儲(chǔ)老化測(cè)試箱，下面我來(lái)看看是如何測(cè)試的。
半導(dǎo)體存儲(chǔ)產(chǎn)品老化測(cè)試：
試驗(yàn)設(shè)備：環(huán)儀儀器 高溫存儲(chǔ)老化測(cè)試箱
測(cè)試原理：模擬在高溫或低溫的環(huán)境下，通過(guò)輔助控制軟件發(fā)指令，向存儲(chǔ)類產(chǎn)品做讀寫和比對(duì)測(cè)試，確認(rèn)存儲(chǔ)產(chǎn)品在嚴(yán)苛的外部環(huán)境是否可以正常運(yùn)作。
測(cè)試步驟：
步驟一：將樣品組裝在高溫存儲(chǔ)老化測(cè)試箱內(nèi)。
步驟二：通過(guò)控制器，對(duì)高溫存儲(chǔ)老化測(cè)試箱進(jìn)行定時(shí)的升溫、降溫、恒溫控制；
步驟三：對(duì)高溫存儲(chǔ)老化測(cè)試箱在不同的環(huán)境溫度下發(fā)出指令，使存儲(chǔ)產(chǎn)品做讀或?qū)懙闹噶睿敝链藴y(cè)試項(xiàng)目完成，并回報(bào)后，服務(wù)器再發(fā)出下一個(gè)指令，并進(jìn)行下一個(gè)項(xiàng)目的測(cè)試；
步驟四：通過(guò)編輯產(chǎn)出報(bào)告格式，自動(dòng)回填各測(cè)試項(xiàng)目數(shù)據(jù)，通過(guò)對(duì)測(cè)試數(shù)據(jù)做邏輯判斷，自動(dòng)判斷結(jié)果是PASS或是NG。
以上老化試驗(yàn)需要多臺(tái)高溫存儲(chǔ)老化測(cè)試箱并搭配多臺(tái)測(cè)試機(jī)，才能完成存儲(chǔ)類產(chǎn)品在不同的高溫環(huán)境下做讀寫測(cè)試（高溫的溫度范圍是35℃~85℃，恒溫的溫度是10~20℃。）
如有高溫存儲(chǔ)老化測(cè)試箱的使用疑問(wèn)，可以咨詢環(huán)儀儀器相關(guān)技術(shù)人員。
