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eMMC存儲(chǔ)芯片高低溫老化箱的測試方法

時(shí)間:2024-11-01 10:51:31 作者:環(huán)儀小編 點(diǎn)擊:

eMMC存儲(chǔ)芯片高低溫老化箱可對eMMC(EmbeddedMulti Media Card,嵌入式多媒體卡)、SSD(Solid State Disk,固態(tài)硬盤)、UFS(UniveralFlash Storage,通用閃存存儲(chǔ)器)等存儲(chǔ)芯片的兼容性能進(jìn)行檢測。在不同存儲(chǔ)芯片適配終端產(chǎn)品的PCB(Printed Circuit Board,印制電路板)時(shí),可在不同的環(huán)境條件下,快速高效的篩選出兼容性能良好的存儲(chǔ)芯片。

下面,我們結(jié)合實(shí)際情況,看看如何對eMMC存儲(chǔ)做高低溫老化測試。

eMMC存儲(chǔ)高低溫老化測試方法:

試驗(yàn)設(shè)備:環(huán)儀儀器 eMMC存儲(chǔ)芯片高低溫老化箱

測試內(nèi)容:高低溫循環(huán)存儲(chǔ)、高低溫循環(huán)工作

eMMC存儲(chǔ)芯片高低溫老化箱的測試方法(圖1)

工作模式示意圖:

eMMC存儲(chǔ)芯片高低溫老化箱的測試方法(圖2)

試驗(yàn)步驟:

高低溫循環(huán)存儲(chǔ)試驗(yàn)

1、6 套球泡燈在溫箱內(nèi)僅存儲(chǔ)并不上電工作,開啟并設(shè)置eMMC存儲(chǔ)芯片高低溫老化箱工作于指定溫度(-40/-20/0/25/60/85/105/125)℃循環(huán)模式;

2、6 套球泡燈在溫度循環(huán)環(huán)境下持續(xù)存放 72 小時(shí)后取出,并在常溫下通過 BLE 配網(wǎng)加入無線路由器 AP,進(jìn)而連接云,并在智能控?zé)?APP 上添加設(shè)備成功;

3、1 小時(shí)內(nèi)隨意查詢 6 套球泡燈連云狀態(tài),并調(diào)整顏色,開關(guān)燈等操作。

eMMC存儲(chǔ)芯片高低溫老化箱的測試方法(圖3)

高低溫循環(huán)工作試驗(yàn)

1、6 套球泡燈在溫箱內(nèi)上電工作,開啟并設(shè)置eMMC存儲(chǔ)芯片高低溫老化箱工作于指定溫度(-40/-20/0/25/60/85/105)℃循環(huán)模式;

2、6 套球泡燈在溫度循環(huán)環(huán)境下持續(xù)工作 168 小時(shí),期間反復(fù)嘗試 BLE配網(wǎng)加入無線路由器 AP,進(jìn)而連接云,并在智能控?zé)?APP 上添加設(shè)備成功;

3、168 小時(shí)內(nèi)隨意查詢 6 套球泡燈連云狀態(tài),并調(diào)整顏色,開關(guān)燈等操作。


如對以上試驗(yàn)有疑問,可以咨詢環(huán)儀儀器相關(guān)技術(shù)人員。

標(biāo)簽: 高低溫試驗(yàn)箱

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