為了測試SSD固態(tài)硬盤的“軟件讀寫性能測試”，在測試過程中，需要使用高低溫循環(huán)試驗箱和常溫存放H2test校驗測試，為了讓大家了解固態(tài)硬盤的高低溫讀寫性能，接下來我們?yōu)榇蠹抑v述該方法的主要過程。
SSD固態(tài)硬盤高低溫讀寫性能：
試驗設(shè)備：環(huán)儀儀器 固態(tài)硬盤高低溫循環(huán)試驗箱
測試軟件：BurnInTest、H2test
測試環(huán)境：高溫75℃/低溫-10℃
測試樣品：某品牌SSD固態(tài)硬盤
測試過程：
測試開始前，設(shè)置程序，先升溫到75℃，持續(xù)12小時，然后逐漸降溫至-10℃，持續(xù)12小時，共經(jīng)歷3次循環(huán)，合計72小時。經(jīng)過72小時的高低溫循環(huán)后，PassMark BurnInTest的判定通過。
說明SSD在72小時的高溫和低溫的循環(huán)下，能夠進行正常的滿載傳輸，按照電腦正常滿載運作，CPU溫度達到60℃時會出現(xiàn)卡頓現(xiàn)象，但能夠在75℃高溫或者-10℃低溫下穩(wěn)定進行滿載工作。
此外，為了檢測產(chǎn)品內(nèi)部是否有產(chǎn)生壞塊，用來專業(yè)檢測固態(tài)硬盤壞塊的軟件H2testw進行常溫下48小時滿盤寫入+校驗，目的這是為了檢測在如此苛刻條件下，硬盤是否會產(chǎn)生壞塊的情況。
以上就是固態(tài)硬盤的高低溫循環(huán)試驗過程，如對試驗有疑問，可以咨詢環(huán)儀儀器相關(guān)技術(shù)人員。
