LED組件快速溫度循環(huán)試驗(yàn)箱是適用于LED模組、模塊、燈珠、燈絲、燈帶等產(chǎn)品，用于進(jìn)行溫度快速變化或漸變條件下的適應(yīng)性試驗(yàn)和應(yīng)力篩選試驗(yàn)。該設(shè)備符合MIL-STD、IEC、JIS等國(guó)際測(cè)試規(guī)范，滿足led產(chǎn)品溫度循環(huán)測(cè)試及溫度沖擊的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)，如JEDEC、IPC、MIL、ISO、AEC等。
技術(shù)參數(shù)：
溫度循環(huán)試驗(yàn)的特點(diǎn)：
1. 可以根據(jù)不同的測(cè)試規(guī)范要求，選擇空氣溫度控制或待測(cè)品表面溫度控制。
2. 可以選擇合適的升降溫溫變率，如等均溫或平均溫。
3. 可以分別設(shè)定升溫和降溫的溫變率偏差。
4. 可以設(shè)定升降溫的過(guò)溫偏差，以符合規(guī)范要求。
5. 溫度循環(huán)和溫度沖擊測(cè)試都可以選擇表面溫度控制。
試驗(yàn)概述：
多通道LED老化電源與環(huán)境試驗(yàn)箱通過(guò)專(zhuān)用老化排線連接。老化排線一端采用36P連接器，插入程控電源的輸出接口，另一端為金手指結(jié)構(gòu)，經(jīng)由試驗(yàn)箱進(jìn)線孔引入箱體內(nèi)部，并固定安裝于高溫老化治具上。
在進(jìn)行老化測(cè)試時(shí)，僅需將老化板插接至試驗(yàn)箱內(nèi)的金手指接口，并設(shè)置相應(yīng)的試驗(yàn)參數(shù)，即可啟動(dòng)老化試驗(yàn)過(guò)程。
所需測(cè)試條件均可在電腦上完成，可實(shí)時(shí)記錄存儲(chǔ)測(cè)試數(shù)據(jù)，提示有超范圍的測(cè)試工位。
如有LED組件快速溫度循環(huán)試驗(yàn)箱的選型疑問(wèn)，可以咨詢環(huán)儀儀器相關(guān)技術(shù)人員。
