歡迎光臨東莞環(huán)儀儀器有限公司官網！專業(yè)（可程式恒溫恒濕試驗箱）、冷熱沖擊試驗箱、高低溫試驗箱及VOC環(huán)境艙廠家。
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產品簡介：芯片模組低溫測試箱是一種專門用于對芯片模組進行低溫環(huán)境測試的設備。它提供了控制溫度和濕度的功能，使得芯片模組可以在惡劣的低溫條件下進行測試和評估。產品用途：芯片模組低溫測試箱可以為芯片的可靠...
芯片模組在封測階段需要做各種可靠性測試，其中一項就是低溫測試，例如EIAJ ED-4701/200:2001 半導體器件的環(huán)境和耐久性試驗方法（壽命試驗 II）和JESD22-A119A 低溫存儲壽命...
芯片模組低溫測試箱用于產品的低溫測試，下面是“環(huán)儀儀器”整理出的一些設計到芯片模組低溫測試的標準和要求，供各位參考。試驗名稱：芯片模組做低溫測試試驗設備：環(huán)儀儀器 低溫測試箱試驗條件：1. EIAJ ...
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