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012024-11

EMMC高低溫循環(huán)試驗箱的技術(shù)方案

EMMC高低溫循環(huán)試驗箱可針對NAND Flash、UFS芯片進行高速、高低溫度范圍的全功能動態(tài)老化測試。針對集成NAND和Controller的模組芯片（例如
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012024-11

eMMC存儲芯片高低溫老化箱的測試方法

eMMC存儲芯片高低溫老化箱可對eMMC（EmbeddedMulti Media Card，嵌入式多媒體卡）、SSD（Solid State Disk，固態(tài)硬盤
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012024-11

eMMC高低溫試驗箱

eMMC高低溫試驗箱是一款專門針對eMMC、UFS、eMCP等顆粒存儲芯片進行高低溫老化的設(shè)備。設(shè)備采用可程式系統(tǒng)控制，能夠同時支持大批量芯片同步老化測試，腔體
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212024-10

光電器件高低溫特性試驗箱的實際應(yīng)用

很多光電器件必須長時間工作在高低溫等各種惡劣環(huán)境下，高低溫失效問題變得越來越嚴重。針對電器件的高低溫失效問題，研究低溫環(huán)境下器件的電特性規(guī)律和各種參數(shù)隨溫度變化
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212024-10

光電產(chǎn)品高低溫生命期實驗箱的試驗流程

針對光電產(chǎn)品開展高低溫循環(huán)試驗。試驗過程中每間隔一定的循環(huán)次數(shù)，對器件進行光電性能、杜瓦漏熱、制冷器特性等性能參數(shù)的測試和分析。高低溫循環(huán)試驗需確定以下試驗參數(shù)
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212024-10

光電器件高低溫操作生命期試驗箱

光電子器件包括光探測器、激光器等，應(yīng)用在非常廣泛的領(lǐng)域。由于不同器件應(yīng)用的環(huán)境溫度范圍不同，因而對電器件在不同溫度下的各種光電參數(shù)有不同的要求。所以在器件的制備
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052024-07

超聲波燃氣表耐高低溫貯存試驗箱

超聲波燃氣表耐高低溫貯存試驗箱是按照標準《GB/T 39841-2021 超聲波燃氣表》要求設(shè)計的，超聲波燃氣表耐高低溫貯存試驗箱是一種用于測試超聲波燃氣表在極
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052024-07

電梯IC卡裝置高低溫試驗箱

電梯IC卡裝置高低溫試驗箱是按照標準《GB/T 39679-2020 電梯IC卡裝置》要求設(shè)計的，電梯IC卡裝置高低溫試驗箱是一種專門用于測試電梯IC卡裝置在極