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《GB/T 12085.5-2010 光學和光學儀器 環(huán)境試驗方法 第5部分：低溫、低氣壓綜合試驗》是中國國家標準，屬于《GB/T 12085 光學和光學儀器 環(huán)境試驗方法》系列標準的第5部分。該標準...
《GB/T 2423.102-2008 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗：溫度（低溫、高溫）/低氣壓/振動（正弦）綜合》是中國國家標準，屬于《GB/T 2423 電工電子產品環(huán)境試驗》系...
《GB/T 2423.21-2008 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗M：低氣壓》是中國國家標準，屬于《GB/T 2423 電工電子產品環(huán)境試驗》系列標準的第2部分，主要規(guī)定了電工電子產...
《GB/T 2423.27-2020 環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗方法和導則：溫度/低氣壓或溫度/濕度/低氣壓綜合試驗》是中國國家標準，屬于《GB/T 2423 環(huán)境試驗》系列標準的第2部分，主...
GB/T 2423.63-2019標準規(guī)定了在低溫、高溫和低氣壓環(huán)境下進行振動綜合試驗的方法，主要包括試驗目的、試驗條件、試驗設備、試驗過程、試驗結果評定等內容。其中，試驗條件包括試驗溫度、低氣壓、振...
GB/T 2424.15-2008是中國國家標準中的一部分，標準名稱為“電工電子產品環(huán)境試驗 第3部分：溫度/低氣壓綜合試驗導則”。該標準規(guī)定了電工電子產品在高溫和低氣壓環(huán)境下的試驗方法和試驗條件。具...
GB/T 4857.13-2005是中國國家標準中的一部分，標準名稱為“包裝 運輸包裝件基本試驗 第13部分：低氣壓試驗方法”。該標準規(guī)定了運輸包裝件在低氣壓環(huán)境下的試驗方法和試驗條件，以評估包裝件在...
GB/T 4937.2-2006《半導體器件 機械和氣候試驗方法 第2部分:低氣壓》是中國國家標準，規(guī)定了半導體器件在低氣壓環(huán)境下進行的機械和氣候試驗方法。該標準分為7個部分，包括試驗目的、試驗條件、...
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